| Title: | Методические основы оперативного управления топологическим процессом получения подзатворного диэлектрика МДП микросхем |
| Authors: | Чухраев И. В. |
| Keywords: | подзатворные диэлектрики оперативное управление топологическим процессом качество технологической операции качество подзатворного диэлектрика испытания в сильных электрических полях испытания подзатворного диэлектрика топологические процессы получения подзатворного диэлектрика |
| Issue Date: | 2005 |
| Citation: | Чухраев, И. В. Методические основы оперативного управления топологическим процессом получения подзатворного диэлектрика МДП микросхем / И. В. Чухраев // Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций : материалы Всерос. науч.-техн. конф., 12-13 мая 2005 г. / М-во образования и науки Рос. Федерации, Самар. гос. аэрокосм. ун-т им. С. П. Королева ; под ред. И. Г. Мироненко, М. Н. Пиганова. - Самаpа : СГАУ, 2005. - С. 73-75. |
| URI: | http://repo.ssau.ru/jspui/handle/123456789/6814 |
| Appears in Collections: | Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций |
Files in This Item:
| File | Size | Format | |
|---|---|---|---|
| Стр.-73-75.pdf | 153.57 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in Repository are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.