Title: Электрофизическая диагностика микросхем КМОП—типа
Authors: Архипов А. В.
Пиганов М. Н.
Тюлевин С. В.
Keywords: пороговое напряжение
МОП
отказы
блоки памяти
ДНК
двоичные последовательности
деградационные процессы
ГТП
ГТП — генератор тестовых последовательностей
дефекты окисла
запоминающие устройства
индикаторы
ИМС
контроль
компараторы
коды
КМОП
критическое питающее напряжение (КПН)
КПН
микросхемы 764 серии
электрофизическая диагностика
устройства контроля
уровень логической единицы
токи утечки
УИП
УИП — управляемый источник питания
транзисторы
ЦИМС — цифровая интегральная микросхема
формирователи импульсов
ФКН
ФКН — формирователь кода напряжения
ФКТП
ФКТП-— формирователь кодовой тест последовательности
ФИ
ФВО
ФВО — формирователь временного окна
ТГ - тактовый генератор
СЦ
СЦ — счетчик циклов
тестирование
структурная схема устройства
структурно-функциональные схемы
сигнатурные анализаторы
РСД
РСД реверсивный счетчик — дешифратор
СА
СА — сигнатурный анализатор
сбои
Issue Date: 2004
Citation: Архипов, А. В. Электрофизическая диагностика микросхем КМОП—типа. - Текст : электронный / А. В. Архипов, М. Н. Пиганов, С. В. Тюлевин // Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций : материалы Всерос. науч.-техн. конф., 31 мая - 4 июня 2004 г. - Текст : электронный / М-во образования и науки Рос. Федерации, Самар. гос. аэрокосм. ун-т им. С. П. Королева ; [под ред. И. Г. Мироненко, М. Н. Пиганова]. - 2004. - С. 75-79
URI: http://repo.ssau.ru/jspui/handle/123456789/6703
Appears in Collections:Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций

Files in This Item:
File SizeFormat 
Стр.-75-79.pdf206.15 kBAdobe PDFView/Open


Items in Repository are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.