Full metadata record
| DC Field | Value | Language |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | Архипов А. В. | |
| dc.contributor.author | Пиганов М. Н. | |
| dc.contributor.author | Тюлевин С. В. | |
| dc.coverage.spatial | пороговое напряжение | |
| dc.coverage.spatial | МОП | |
| dc.coverage.spatial | отказы | |
| dc.coverage.spatial | блоки памяти | |
| dc.coverage.spatial | ДНК | |
| dc.coverage.spatial | двоичные последовательности | |
| dc.coverage.spatial | деградационные процессы | |
| dc.coverage.spatial | ГТП | |
| dc.coverage.spatial | ГТП — генератор тестовых последовательностей | |
| dc.coverage.spatial | дефекты окисла | |
| dc.coverage.spatial | запоминающие устройства | |
| dc.coverage.spatial | индикаторы | |
| dc.coverage.spatial | ИМС | |
| dc.coverage.spatial | контроль | |
| dc.coverage.spatial | компараторы | |
| dc.coverage.spatial | коды | |
| dc.coverage.spatial | КМОП | |
| dc.coverage.spatial | критическое питающее напряжение (КПН) | |
| dc.coverage.spatial | КПН | |
| dc.coverage.spatial | микросхемы 764 серии | |
| dc.coverage.spatial | электрофизическая диагностика | |
| dc.coverage.spatial | устройства контроля | |
| dc.coverage.spatial | уровень логической единицы | |
| dc.coverage.spatial | токи утечки | |
| dc.coverage.spatial | УИП | |
| dc.coverage.spatial | УИП — управляемый источник питания | |
| dc.coverage.spatial | транзисторы | |
| dc.coverage.spatial | ЦИМС — цифровая интегральная микросхема | |
| dc.coverage.spatial | формирователи импульсов | |
| dc.coverage.spatial | ФКН | |
| dc.coverage.spatial | ФКН — формирователь кода напряжения | |
| dc.coverage.spatial | ФКТП | |
| dc.coverage.spatial | ФКТП-— формирователь кодовой тест последовательности | |
| dc.coverage.spatial | ФИ | |
| dc.coverage.spatial | ФВО | |
| dc.coverage.spatial | ФВО — формирователь временного окна | |
| dc.coverage.spatial | ТГ - тактовый генератор | |
| dc.coverage.spatial | СЦ | |
| dc.coverage.spatial | СЦ — счетчик циклов | |
| dc.coverage.spatial | тестирование | |
| dc.coverage.spatial | структурная схема устройства | |
| dc.coverage.spatial | структурно-функциональные схемы | |
| dc.coverage.spatial | сигнатурные анализаторы | |
| dc.coverage.spatial | РСД | |
| dc.coverage.spatial | РСД реверсивный счетчик — дешифратор | |
| dc.coverage.spatial | СА | |
| dc.coverage.spatial | СА — сигнатурный анализатор | |
| dc.coverage.spatial | сбои | |
| dc.creator | Архипов А. В., Пиганов М. Н., Тюлевин С. В. | |
| dc.date | 2004 | |
| dc.date.accessioned | 2025-08-22T12:09:39Z | - |
| dc.date.available | 2025-08-22T12:09:39Z | - |
| dc.date.issued | 2004 | |
| dc.identifier.identifier | RU\НТБ СГАУ\470138 | |
| dc.identifier.citation | Архипов, А. В. Электрофизическая диагностика микросхем КМОП—типа. - Текст : электронный / А. В. Архипов, М. Н. Пиганов, С. В. Тюлевин // Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций : материалы Всерос. науч.-техн. конф., 31 мая - 4 июня 2004 г. - Текст : электронный / М-во образования и науки Рос. Федерации, Самар. гос. аэрокосм. ун-т им. С. П. Королева ; [под ред. И. Г. Мироненко, М. Н. Пиганова]. - 2004. - С. 75-79 | |
| dc.identifier.uri | http://repo.ssau.ru/jspui/handle/123456789/6703 | - |
| dc.language | rus | |
| dc.source | Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций : материалы Всерос. науч.-техн. конф., 31 мая - 4 июня 2004 г. - Текст : электронный | |
| dc.subject | пороговое напряжение | |
| dc.subject | МОП | |
| dc.subject | отказы | |
| dc.subject | блоки памяти | |
| dc.subject | ДНК | |
| dc.subject | двоичные последовательности | |
| dc.subject | деградационные процессы | |
| dc.subject | ГТП | |
| dc.subject | ГТП — генератор тестовых последовательностей | |
| dc.subject | дефекты окисла | |
| dc.subject | запоминающие устройства | |
| dc.subject | индикаторы | |
| dc.subject | ИМС | |
| dc.subject | контроль | |
| dc.subject | компараторы | |
| dc.subject | коды | |
| dc.subject | КМОП | |
| dc.subject | критическое питающее напряжение (КПН) | |
| dc.subject | КПН | |
| dc.subject | микросхемы 764 серии | |
| dc.subject | электрофизическая диагностика | |
| dc.subject | устройства контроля | |
| dc.subject | уровень логической единицы | |
| dc.subject | токи утечки | |
| dc.subject | УИП | |
| dc.subject | УИП — управляемый источник питания | |
| dc.subject | транзисторы | |
| dc.subject | ЦИМС — цифровая интегральная микросхема | |
| dc.subject | формирователи импульсов | |
| dc.subject | ФКН | |
| dc.subject | ФКН — формирователь кода напряжения | |
| dc.subject | ФКТП | |
| dc.subject | ФКТП-— формирователь кодовой тест последовательности | |
| dc.subject | ФИ | |
| dc.subject | ФВО | |
| dc.subject | ФВО — формирователь временного окна | |
| dc.subject | ТГ - тактовый генератор | |
| dc.subject | СЦ | |
| dc.subject | СЦ — счетчик циклов | |
| dc.subject | тестирование | |
| dc.subject | структурная схема устройства | |
| dc.subject | структурно-функциональные схемы | |
| dc.subject | сигнатурные анализаторы | |
| dc.subject | РСД | |
| dc.subject | РСД реверсивный счетчик — дешифратор | |
| dc.subject | СА | |
| dc.subject | СА — сигнатурный анализатор | |
| dc.subject | сбои | |
| dc.title | Электрофизическая диагностика микросхем КМОП—типа | |
| dc.type | Text | |
| dc.citation.epage | 79 | |
| dc.citation.spage | 75 | |
| local.contributor.author | Архипов А. В. | |
| local.contributor.author | Пиганов М. Н. | |
| local.contributor.author | Тюлевин С. В. | |
| local.identifier.olduri | http://repo.ssau.ru/handle/Aktualnye-problemy-radioelektroniki-i-telekommunikacii/Elektrofizicheskaya-diagnostika-mikroshem-KMOP—tipa-92587 | |
| local.identifier.olduri | http://repo.ssau.ru/handle/Aktualnye-problemy-radioelektroniki-i-telekommunikacii/Elektrofizicheskaya-diagnostika-mikroshem-KMOP—tipa-92587 | |
| Appears in Collections: | Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций | |
Files in This Item:
| File | Size | Format | |
|---|---|---|---|
| Стр.-75-79.pdf | 206.15 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in Repository are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.