| Title: | Контроль качества полупроводниковых микросхем по тепловым характеристикам |
| Authors: | Пиганов М. Н. Тюлевин С. В. Бураков А. В. |
| Keywords: | полупроводниковые микросхемы микросхема 522RH2 микросхемы контроль качества измерения установка контроля микросхем сопротивление контактов тепловые характеристики |
| Issue Date: | 2004 |
| Citation: | Пиганов, М. Н. Контроль качества полупроводниковых микросхем по тепловым характеристикам. - Текст : электронный / М. Н. Пиганов, С. В. Тюлевин, А. В. Бураков // Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций : материалы Всерос. науч.-техн. конф., 31 мая - 4 июня 2004 г. - Текст : электронный / М-во образования и науки Рос. Федерации, Самар. гос. аэрокосм. ун-т им. С. П. Королева ; [под ред. И. Г. Мироненко, М. Н. Пиганова]. - 2004. - С. 63 |
| URI: | http://repo.ssau.ru/jspui/handle/123456789/6696 |
| Appears in Collections: | Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций |
Files in This Item:
| File | Size | Format | |
|---|---|---|---|
| Стр.-63.pdf | 71.01 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in Repository are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.