Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorПиганов М. Н.
dc.contributor.authorТюлевин С. В.
dc.contributor.authorБураков А. В.
dc.coverage.spatialполупроводниковые микросхемы
dc.coverage.spatialмикросхема 522RH2
dc.coverage.spatialмикросхемы
dc.coverage.spatialконтроль качества
dc.coverage.spatialизмерения
dc.coverage.spatialустановка контроля микросхем
dc.coverage.spatialсопротивление контактов
dc.coverage.spatialтепловые характеристики
dc.creatorПиганов М. Н., Тюлевин С. В., Бураков А. В.
dc.date2004
dc.date.accessioned2025-08-22T12:09:39Z-
dc.date.available2025-08-22T12:09:39Z-
dc.date.issued2004
dc.identifier.identifierRU\НТБ СГАУ\469804
dc.identifier.citationПиганов, М. Н. Контроль качества полупроводниковых микросхем по тепловым характеристикам. - Текст : электронный / М. Н. Пиганов, С. В. Тюлевин, А. В. Бураков // Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций : материалы Всерос. науч.-техн. конф., 31 мая - 4 июня 2004 г. - Текст : электронный / М-во образования и науки Рос. Федерации, Самар. гос. аэрокосм. ун-т им. С. П. Королева ; [под ред. И. Г. Мироненко, М. Н. Пиганова]. - 2004. - С. 63
dc.identifier.urihttp://repo.ssau.ru/jspui/handle/123456789/6696-
dc.languagerus
dc.sourceАктуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций : материалы Всерос. науч.-техн. конф., 31 мая - 4 июня 2004 г. - Текст : электронный
dc.subjectполупроводниковые микросхемы
dc.subjectмикросхема 522RH2
dc.subjectмикросхемы
dc.subjectконтроль качества
dc.subjectизмерения
dc.subjectустановка контроля микросхем
dc.subjectсопротивление контактов
dc.subjectтепловые характеристики
dc.titleКонтроль качества полупроводниковых микросхем по тепловым характеристикам
dc.typeText
dc.citation.spage63
local.contributor.authorПиганов М. Н.
local.contributor.authorТюлевин С. В.
local.contributor.authorБураков А. В.
local.identifier.oldurihttp://repo.ssau.ru/handle/Aktualnye-problemy-radioelektroniki-i-telekommunikacii/Kontrol-kachestva-poluprovodnikovyh-mikroshem-po-teplovym-harakteristikam-92581
local.identifier.oldurihttp://repo.ssau.ru/handle/Aktualnye-problemy-radioelektroniki-i-telekommunikacii/Kontrol-kachestva-poluprovodnikovyh-mikroshem-po-teplovym-harakteristikam-92581
Appears in Collections:Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций

Files in This Item:
File SizeFormat 
Стр.-63.pdf71.01 kBAdobe PDFView/Open


Items in Repository are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.