Title: Контроль качества полупроводниковых микросхем по тепловым характеристикам
Authors: Пиганов М. Н.
Тюлевин С. В.
Бураков А. В.
Keywords: полупроводниковые микросхемы
микросхема 522RH2
микросхемы
контроль качества
измерения
установка контроля микросхем
сопротивление контактов
тепловые характеристики
Issue Date: 2004
Citation: Пиганов, М. Н. Контроль качества полупроводниковых микросхем по тепловым характеристикам. - Текст : электронный / М. Н. Пиганов, С. В. Тюлевин, А. В. Бураков // Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций : материалы Всерос. науч.-техн. конф., 31 мая - 4 июня 2004 г. - Текст : электронный / М-во образования и науки Рос. Федерации, Самар. гос. аэрокосм. ун-т им. С. П. Королева ; [под ред. И. Г. Мироненко, М. Н. Пиганова]. - 2004. - С. 63
URI: http://repo.ssau.ru/jspui/handle/123456789/6696
Appears in Collections:Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций

Files in This Item:
File SizeFormat 
Стр.-63.pdf71.01 kBAdobe PDFView/Open


Items in Repository are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.