| Title: | Научные основы совершенствования радиационно-лазерных cистем испытания, обработки и контроля изделий электронного производства |
| Authors: | Давыдов Н. Н. |
| Keywords: | облучения оптические волноводы полупроводниковые ИС подложки погрешности измерений БИС бистабильные измерительные схемы бистабильные структуры алгоритмы отбора контроль изделий изделия электронной техники (ИЭТ) изотопные источники излучения импульсы ИИ испытания метод симметрирования ОВ методы асинхронного логического моделирования математические модели процессов контроля фоторазрушения макроструктуры стекла РЭУ процессы обработки материалов радиационно-лазерные комплексы радиационно-лазерные системы радиационные испытания производственные процессы технологические процессы селективной сборки |
| Issue Date: | 2004 |
| Citation: | Давыдов, Н. Н. Научные основы совершенствования радиационно-лазерных cистем испытания, обработки и контроля изделий электронного производства. - Текст : электронный / Н. Н. Давыдов // Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций : материалы Всерос. науч.-техн. конф., 31 мая - 4 июня 2004 г. - Текст : электронный / М-во образования и науки Рос. Федерации, Самар. гос. аэрокосм. ун-т им. С. П. Королева ; [под ред. И. Г. Мироненко, М. Н. Пиганова]. - 2004. - С. 45-52 |
| URI: | http://repo.ssau.ru/jspui/handle/123456789/6686 |
| Appears in Collections: | Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций |
Files in This Item:
| File | Size | Format | |
|---|---|---|---|
| Стр.-45-52.pdf | 444.78 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in Repository are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.