Title: Научные основы совершенствования радиационно-лазерных cистем испытания, обработки и контроля изделий электронного производства
Authors: Давыдов Н. Н.
Keywords: облучения
оптические волноводы
полупроводниковые ИС
подложки
погрешности измерений
БИС
бистабильные измерительные схемы
бистабильные структуры
алгоритмы отбора
контроль изделий
изделия электронной техники (ИЭТ)
изотопные источники излучения
импульсы ИИ
испытания
метод симметрирования ОВ
методы асинхронного логического моделирования
математические модели процессов контроля
фоторазрушения макроструктуры стекла
РЭУ
процессы обработки материалов
радиационно-лазерные комплексы
радиационно-лазерные системы
радиационные испытания
производственные процессы
технологические процессы селективной сборки
Issue Date: 2004
Citation: Давыдов, Н. Н. Научные основы совершенствования радиационно-лазерных cистем испытания, обработки и контроля изделий электронного производства. - Текст : электронный / Н. Н. Давыдов // Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций : материалы Всерос. науч.-техн. конф., 31 мая - 4 июня 2004 г. - Текст : электронный / М-во образования и науки Рос. Федерации, Самар. гос. аэрокосм. ун-т им. С. П. Королева ; [под ред. И. Г. Мироненко, М. Н. Пиганова]. - 2004. - С. 45-52
URI: http://repo.ssau.ru/jspui/handle/123456789/6686
Appears in Collections:Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций

Files in This Item:
File SizeFormat 
Стр.-45-52.pdf444.78 kBAdobe PDFView/Open


Items in Repository are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.