Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorДавыдов Н. Н.
dc.coverage.spatialоблучения
dc.coverage.spatialоптические волноводы
dc.coverage.spatialполупроводниковые ИС
dc.coverage.spatialподложки
dc.coverage.spatialпогрешности измерений
dc.coverage.spatialБИС
dc.coverage.spatialбистабильные измерительные схемы
dc.coverage.spatialбистабильные структуры
dc.coverage.spatialалгоритмы отбора
dc.coverage.spatialконтроль изделий
dc.coverage.spatialизделия электронной техники (ИЭТ)
dc.coverage.spatialизотопные источники излучения
dc.coverage.spatialимпульсы ИИ
dc.coverage.spatialиспытания
dc.coverage.spatialметод симметрирования ОВ
dc.coverage.spatialметоды асинхронного логического моделирования
dc.coverage.spatialматематические модели процессов контроля
dc.coverage.spatialфоторазрушения макроструктуры стекла
dc.coverage.spatialРЭУ
dc.coverage.spatialпроцессы обработки материалов
dc.coverage.spatialрадиационно-лазерные комплексы
dc.coverage.spatialрадиационно-лазерные системы
dc.coverage.spatialрадиационные испытания
dc.coverage.spatialпроизводственные процессы
dc.coverage.spatialтехнологические процессы селективной сборки
dc.creatorДавыдов Н. Н.
dc.date2004
dc.date.accessioned2025-08-22T12:09:38Z-
dc.date.available2025-08-22T12:09:38Z-
dc.date.issued2004
dc.identifier.identifierRU\НТБ СГАУ\469380
dc.identifier.citationДавыдов, Н. Н. Научные основы совершенствования радиационно-лазерных cистем испытания, обработки и контроля изделий электронного производства. - Текст : электронный / Н. Н. Давыдов // Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций : материалы Всерос. науч.-техн. конф., 31 мая - 4 июня 2004 г. - Текст : электронный / М-во образования и науки Рос. Федерации, Самар. гос. аэрокосм. ун-т им. С. П. Королева ; [под ред. И. Г. Мироненко, М. Н. Пиганова]. - 2004. - С. 45-52
dc.identifier.urihttp://repo.ssau.ru/jspui/handle/123456789/6686-
dc.languagerus
dc.sourceАктуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций : материалы Всерос. науч.-техн. конф., 31 мая - 4 июня 2004 г. - Текст : электронный
dc.subjectоблучения
dc.subjectоптические волноводы
dc.subjectполупроводниковые ИС
dc.subjectподложки
dc.subjectпогрешности измерений
dc.subjectБИС
dc.subjectбистабильные измерительные схемы
dc.subjectбистабильные структуры
dc.subjectалгоритмы отбора
dc.subjectконтроль изделий
dc.subjectизделия электронной техники (ИЭТ)
dc.subjectизотопные источники излучения
dc.subjectимпульсы ИИ
dc.subjectиспытания
dc.subjectметод симметрирования ОВ
dc.subjectметоды асинхронного логического моделирования
dc.subjectматематические модели процессов контроля
dc.subjectфоторазрушения макроструктуры стекла
dc.subjectРЭУ
dc.subjectпроцессы обработки материалов
dc.subjectрадиационно-лазерные комплексы
dc.subjectрадиационно-лазерные системы
dc.subjectрадиационные испытания
dc.subjectпроизводственные процессы
dc.subjectтехнологические процессы селективной сборки
dc.titleНаучные основы совершенствования радиационно-лазерных cистем испытания, обработки и контроля изделий электронного производства
dc.typeText
dc.citation.epage52
dc.citation.spage45
local.contributor.authorДавыдов Н. Н.
local.identifier.oldurihttp://repo.ssau.ru/handle/Aktualnye-problemy-radioelektroniki-i-telekommunikacii/Nauchnye-osnovy-sovershenstvovaniya-radiacionnolazernyh-cistem-ispytaniya-obrabotki-i-kontrolya-izdelii-elektronnogo-proizvodstva-92572
local.identifier.oldurihttp://repo.ssau.ru/handle/Aktualnye-problemy-radioelektroniki-i-telekommunikacii/Nauchnye-osnovy-sovershenstvovaniya-radiacionnolazernyh-cistem-ispytaniya-obrabotki-i-kontrolya-izdelii-elektronnogo-proizvodstva-92572
Appears in Collections:Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций

Files in This Item:
File SizeFormat 
Стр.-45-52.pdf444.78 kBAdobe PDFView/Open


Items in Repository are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.