Full metadata record
| DC Field | Value | Language |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | Давыдов Н. Н. | |
| dc.coverage.spatial | облучения | |
| dc.coverage.spatial | оптические волноводы | |
| dc.coverage.spatial | полупроводниковые ИС | |
| dc.coverage.spatial | подложки | |
| dc.coverage.spatial | погрешности измерений | |
| dc.coverage.spatial | БИС | |
| dc.coverage.spatial | бистабильные измерительные схемы | |
| dc.coverage.spatial | бистабильные структуры | |
| dc.coverage.spatial | алгоритмы отбора | |
| dc.coverage.spatial | контроль изделий | |
| dc.coverage.spatial | изделия электронной техники (ИЭТ) | |
| dc.coverage.spatial | изотопные источники излучения | |
| dc.coverage.spatial | импульсы ИИ | |
| dc.coverage.spatial | испытания | |
| dc.coverage.spatial | метод симметрирования ОВ | |
| dc.coverage.spatial | методы асинхронного логического моделирования | |
| dc.coverage.spatial | математические модели процессов контроля | |
| dc.coverage.spatial | фоторазрушения макроструктуры стекла | |
| dc.coverage.spatial | РЭУ | |
| dc.coverage.spatial | процессы обработки материалов | |
| dc.coverage.spatial | радиационно-лазерные комплексы | |
| dc.coverage.spatial | радиационно-лазерные системы | |
| dc.coverage.spatial | радиационные испытания | |
| dc.coverage.spatial | производственные процессы | |
| dc.coverage.spatial | технологические процессы селективной сборки | |
| dc.creator | Давыдов Н. Н. | |
| dc.date | 2004 | |
| dc.date.accessioned | 2025-08-22T12:09:38Z | - |
| dc.date.available | 2025-08-22T12:09:38Z | - |
| dc.date.issued | 2004 | |
| dc.identifier.identifier | RU\НТБ СГАУ\469380 | |
| dc.identifier.citation | Давыдов, Н. Н. Научные основы совершенствования радиационно-лазерных cистем испытания, обработки и контроля изделий электронного производства. - Текст : электронный / Н. Н. Давыдов // Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций : материалы Всерос. науч.-техн. конф., 31 мая - 4 июня 2004 г. - Текст : электронный / М-во образования и науки Рос. Федерации, Самар. гос. аэрокосм. ун-т им. С. П. Королева ; [под ред. И. Г. Мироненко, М. Н. Пиганова]. - 2004. - С. 45-52 | |
| dc.identifier.uri | http://repo.ssau.ru/jspui/handle/123456789/6686 | - |
| dc.language | rus | |
| dc.source | Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций : материалы Всерос. науч.-техн. конф., 31 мая - 4 июня 2004 г. - Текст : электронный | |
| dc.subject | облучения | |
| dc.subject | оптические волноводы | |
| dc.subject | полупроводниковые ИС | |
| dc.subject | подложки | |
| dc.subject | погрешности измерений | |
| dc.subject | БИС | |
| dc.subject | бистабильные измерительные схемы | |
| dc.subject | бистабильные структуры | |
| dc.subject | алгоритмы отбора | |
| dc.subject | контроль изделий | |
| dc.subject | изделия электронной техники (ИЭТ) | |
| dc.subject | изотопные источники излучения | |
| dc.subject | импульсы ИИ | |
| dc.subject | испытания | |
| dc.subject | метод симметрирования ОВ | |
| dc.subject | методы асинхронного логического моделирования | |
| dc.subject | математические модели процессов контроля | |
| dc.subject | фоторазрушения макроструктуры стекла | |
| dc.subject | РЭУ | |
| dc.subject | процессы обработки материалов | |
| dc.subject | радиационно-лазерные комплексы | |
| dc.subject | радиационно-лазерные системы | |
| dc.subject | радиационные испытания | |
| dc.subject | производственные процессы | |
| dc.subject | технологические процессы селективной сборки | |
| dc.title | Научные основы совершенствования радиационно-лазерных cистем испытания, обработки и контроля изделий электронного производства | |
| dc.type | Text | |
| dc.citation.epage | 52 | |
| dc.citation.spage | 45 | |
| local.contributor.author | Давыдов Н. Н. | |
| local.identifier.olduri | http://repo.ssau.ru/handle/Aktualnye-problemy-radioelektroniki-i-telekommunikacii/Nauchnye-osnovy-sovershenstvovaniya-radiacionnolazernyh-cistem-ispytaniya-obrabotki-i-kontrolya-izdelii-elektronnogo-proizvodstva-92572 | |
| local.identifier.olduri | http://repo.ssau.ru/handle/Aktualnye-problemy-radioelektroniki-i-telekommunikacii/Nauchnye-osnovy-sovershenstvovaniya-radiacionnolazernyh-cistem-ispytaniya-obrabotki-i-kontrolya-izdelii-elektronnogo-proizvodstva-92572 | |
| Appears in Collections: | Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций | |
Files in This Item:
| File | Size | Format | |
|---|---|---|---|
| Стр.-45-52.pdf | 444.78 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in Repository are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.