Title: Исследование причин отказов интегральных микросхем
Authors: Тулаев Я. Ю.
Keywords: интегральные микросхемы
микросхемы
микроэлектроника
помехозащищенность
отказы интегральных микросхем
Issue Date: 2017
Citation: Тулаев, Я. Ю. Исследование причин отказов интегральных микросхем / Я. Ю. Тулаев // Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций [Электронный ресурс] : материалы Всерос. науч.-техн. конф. (г. Самара, 16-18 мая 2017 г.) / М-во образования и науки Рос. Федерации, Самар. нац. исслед. ун-т им. С. П. Королева (Самар. ун-т) ; под ред. А. И. Данилина. - Самара : ООО "Офорт", 2017. - С. 139-140.
URI: http://repo.ssau.ru/jspui/handle/123456789/6407
ISBN: 978-5-473-01143-2
Appears in Collections:Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
139-140.pdfИсследование причин отказов интегральных микросхем210.4 kBAdobe PDFView/Open


Items in Repository are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.