Исследование причин отказов интегральных микросхем

Тулаев Я. Ю.

Samara University Repository

Welcome to the Samara University repository!

This is an open electronic archive created to preserve and disseminate the scientific results of our university. The works of researchers, faculty members, and students are available to everyone for academic and research purposes.

The repository contains dissertations, research articles, educational and methodological materials, monographs, and regulatory documents. The collections cover a wide range of fields: from aerospace technologies, engine engineering, and computer science to history, linguistics, mathematics, and ecology. The archive brings together the scientific heritage of the university, including materials prepared during the period of Samara State Aerospace University and Samara State University.

Looking for publications by author, title, date, or subject? Full-text search will provide relevant results. Want to explore the academic life more closely? Browse materials by the universityâs organizational units.

Descriptions of all publications and articles available in the repository can be found in the libraryâs electronic catalog. Staff and students can log in via the menu "Login -> My Resource Archive" using their personal account credentials (SSAU_id).

Use the archive for study, research, and professional development!

Full metadata record

DC Field	Value	Language
dc.contributor.author	Тулаев Я. Ю.
dc.coverage.spatial	интегральные микросхемы
dc.coverage.spatial	микросхемы
dc.coverage.spatial	микроэлектроника
dc.coverage.spatial	помехозащищенность
dc.coverage.spatial	отказы интегральных микросхем
dc.creator	Тулаев Я. Ю.
dc.date	2017
dc.date.accessioned	2025-08-22T12:09:27Z	-
dc.date.available	2025-08-22T12:09:27Z	-
dc.date.issued	2017
dc.identifier.identifier	Dspace\SGAU\20180202\67218
dc.identifier.citation	Тулаев, Я. Ю. Исследование причин отказов интегральных микросхем / Я. Ю. Тулаев // Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций [Электронный ресурс] : материалы Всерос. науч.-техн. конф. (г. Самара, 16-18 мая 2017 г.) / М-во образования и науки Рос. Федерации, Самар. нац. исслед. ун-т им. С. П. Королева (Самар. ун-т) ; под ред. А. И. Данилина. - Самара : ООО "Офорт", 2017. - С. 139-140.
dc.identifier.isbn	978-5-473-01143-2
dc.identifier.uri	http://repo.ssau.ru/jspui/handle/123456789/6407	-
dc.language	rus
dc.source	Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций [Электронный ресурс] : материалы Всерос. науч.-техн. конф. (г. Самара, 16-18 мая 2017 г.)
dc.subject	интегральные микросхемы
dc.subject	микросхемы
dc.subject	микроэлектроника
dc.subject	помехозащищенность
dc.subject	отказы интегральных микросхем
dc.subject.udc	621.382
dc.title	Исследование причин отказов интегральных микросхем
dc.type	Text
dc.citation.epage	140
dc.citation.spage	139
local.contributor.author	Тулаев Я. Ю.
local.identifier.olduri	http://repo.ssau.ru/handle/Aktualnye-problemy-radioelektroniki-i-telekommunikacii/Issledovanie-prichin-otkazov-integralnyh-mikroshem-67218
Appears in Collections:	Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций

Files in This Item:

File	Description	Size	Format
139-140.pdf	Исследование причин отказов интегральных микросхем	210.4 kB	Adobe PDF	View/Open

Show simple item record