Title: Исследование качества пайки чип-конденсаторов
Authors: Тюлевин С. В.
Шумских И. Ю.
Пиганов М. Н.
Keywords: радиоэлектронные средства
пайка чип-конденсаторов
качество паяных соединений
Issue Date: 2011
Citation: Тюлевин, С. В. Исследование качества пайки чип-конденсаторов / С. В. Тюлевин, И. Ю. Шумских, М. Н. Пиганов // Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций [Электронный ресурс] : материалы Всерос. науч.-техн. конф., 10-12 мая 2011 г. / М-во образования и науки Рос. Федерации, Самар. гос. аэрокосм. ун-т им. С. П. Королева (нац. исслед. ун-т) ; [под ред. М. Н. Пиганова]. - 2011. - С. 227-233
URI: http://repo.ssau.ru/jspui/handle/123456789/6255
Appears in Collections:Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций

Files in This Item:
File SizeFormat 
Актуальные проблемы 2011-227-233.pdf182.48 kBAdobe PDFView/Open


Items in Repository are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.