| Title: | Анализ качества пайки BGA микросхем |
| Authors: | Тюлевин С. В. Архипов А. И. Пиганов М. Н. |
| Keywords: | качество паяных соединений многослойные печатные платы BGA- микросхемы паяные соединения радиоэлектронная промышленность |
| Issue Date: | 2011 |
| Citation: | Тюлевин, С. В. Анализ качества пайки BGA микросхем / С. В. Тюлевин, А. И. Архипов, М. Н. Пиганов // Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций [Электронный ресурс] : материалы Всерос. науч.-техн. конф., 10-12 мая 2011 г. / М-во образования и науки Рос. Федерации, Самар. гос. аэрокосм. ун-т им. С. П. Королева (нац. исслед. ун-т) ; [под ред. М. Н. Пиганова]. - 2011. - С. 221-226 |
| URI: | http://repo.ssau.ru/jspui/handle/123456789/6245 |
| Appears in Collections: | Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций |
Files in This Item:
| File | Size | Format | |
|---|---|---|---|
| Актуальные проблемы 2011-221-226.pdf | 142.54 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in Repository are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.