Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorТюлевин С. В.
dc.contributor.authorАрхипов А. И.
dc.contributor.authorПиганов М. Н.
dc.coverage.spatialкачество паяных соединений
dc.coverage.spatialмногослойные печатные платы
dc.coverage.spatialBGA- микросхемы
dc.coverage.spatialпаяные соединения
dc.coverage.spatialрадиоэлектронная промышленность
dc.creatorТюлевин С. В., Архипов А. И., Пиганов М. Н.
dc.date2011
dc.date.accessioned2025-08-22T12:09:46Z-
dc.date.available2025-08-22T12:09:46Z-
dc.date.issued2011
dc.identifier.identifierRU\НТБ СГАУ\431682
dc.identifier.citationТюлевин, С. В. Анализ качества пайки BGA микросхем / С. В. Тюлевин, А. И. Архипов, М. Н. Пиганов // Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций [Электронный ресурс] : материалы Всерос. науч.-техн. конф., 10-12 мая 2011 г. / М-во образования и науки Рос. Федерации, Самар. гос. аэрокосм. ун-т им. С. П. Королева (нац. исслед. ун-т) ; [под ред. М. Н. Пиганова]. - 2011. - С. 221-226
dc.identifier.urihttp://repo.ssau.ru/jspui/handle/123456789/6245-
dc.sourceАктуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций [Электронный ресурс] : материалы Всерос. науч.-техн. конф., 10-12 мая 2011 г.
dc.subjectкачество паяных соединений
dc.subjectмногослойные печатные платы
dc.subjectBGA- микросхемы
dc.subjectпаяные соединения
dc.subjectрадиоэлектронная промышленность
dc.titleАнализ качества пайки BGA микросхем
dc.typeText
dc.citation.epage226
dc.citation.spage221
local.contributor.authorТюлевин С. В.
local.contributor.authorАрхипов А. И.
local.contributor.authorПиганов М. Н.
local.identifier.oldurihttp://repo.ssau.ru/handle/Aktualnye-problemy-radioelektroniki-i-telekommunikacii/Analiz-kachestva-paiki-BGA-mikroshem-80949
local.identifier.oldurihttp://repo.ssau.ru/handle/Aktualnye-problemy-radioelektroniki-i-telekommunikacii/Analiz-kachestva-paiki-BGA-mikroshem-80949
Appears in Collections:Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций

Files in This Item:
File SizeFormat 
Актуальные проблемы 2011-221-226.pdf142.54 kBAdobe PDFView/Open


Items in Repository are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.