Title: Анализ дефектов на снимках материалов с использованием гибридных квантово-классических нейронных сетей
Other Titles: 
Authors: Бастракова М. В.
Иванченко М. В.
Ивлев А. Д.
Лаптева Т.
Линев А. В.
Сергеев М. А.
Keywords: 
U-Net
квантовое машинное обучение
нейронные сети
сегментация изображений
Issue Date: 2025
Publisher: Publisher
Citation: Анализ дефектов на снимках материалов с использованием гибридных квантово-классических нейронных сетей / М. В. Бастракова, М. А. Сергеев, Т. Лаптева, А. В. Линев, А. Д. Ивлев, М. В. Иванченко // Информационные технологии и нанотехнологии (ИТНТ-2025) : материалы XI междунар. конф. и молодеж. шк. (г. Самарканд, Узбекистан, 7-9 окт. 2025 г.) / М-во науки и высш. образования Рос. Федерации, Самар. нац. исслед. ун-т им. С. П. Королева (Самар. ун-т). - Самара : Изд-во Самар. ун-та, 2025. - С. 032672.
Abstract: Работа посвящена разработке и исследованиювозможности применения гибридной квантово-классическойнейронной сети для решения задач анализадефектов на микроструктурных изображенияхметаллических материалов. Приводится сравнениепараметров работы гибридной квантово-классическойсети и её классического аналога.
ISBN: 
ISSN: 
ISMN: 
Other Identifiers: RU\НТБ СГАУ\582316
Appears in Collections:Информационные технологии и нанотехнологии

Files in This Item:
File SizeFormat 
978-5-7883-2262-9_2025-215-216.pdf111.95 kBAdobe PDFView/Open


Items in Repository are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.