Full metadata record
| DC Field | Value | Language |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | Бастракова М. В. | ru |
| dc.contributor.author | Иванченко М. В. | ru |
| dc.contributor.author | Ивлев А. Д. | ru |
| dc.contributor.author | Лаптева Т. | ru |
| dc.contributor.author | Линев А. В. | ru |
| dc.contributor.author | Сергеев М. А. | ru |
| dc.date.accessioned | 2026-01-23T11:29:00Z | - |
| dc.date.available | 2026-01-23T11:29:00Z | - |
| dc.date.issued | 2025 | - |
| dc.identifier | RU\НТБ СГАУ\582316 | ru |
| dc.identifier.citation | Анализ дефектов на снимках материалов с использованием гибридных квантово-классических нейронных сетей / М. В. Бастракова, М. А. Сергеев, Т. Лаптева, А. В. Линев, А. Д. Ивлев, М. В. Иванченко // Информационные технологии и нанотехнологии (ИТНТ-2025) : материалы XI междунар. конф. и молодеж. шк. (г. Самарканд, Узбекистан, 7-9 окт. 2025 г.) / М-во науки и высш. образования Рос. Федерации, Самар. нац. исслед. ун-т им. С. П. Королева (Самар. ун-т). - Самара : Изд-во Самар. ун-та, 2025. - С. 032672. | ru |
| dc.identifier.isbn | ru | |
| dc.identifier.issn | ru | |
| dc.identifier.ismn | ru | |
| dc.identifier.nps | ru | |
| dc.identifier.orcid | ru | |
| dc.description.abstract | Работа посвящена разработке и исследованиювозможности применения гибридной квантово-классическойнейронной сети для решения задач анализадефектов на микроструктурных изображенияхметаллических материалов. Приводится сравнениепараметров работы гибридной квантово-классическойсети и её классического аналога. | ru |
| dc.description.firstpage | 032672 | ru |
| dc.format.extent | ru | |
| dc.format.mimetype | Text | ru |
| dc.language.iso | rus | ru |
| dc.publisher | Publisher | ru |
| dc.rights | License | ru |
| dc.source | Source | ru |
| dc.textpart | - | |
| dc.subject | ru | |
| dc.subject | U-Net | ru |
| dc.subject | квантовое машинное обучение | ru |
| dc.subject | нейронные сети | ru |
| dc.subject | сегментация изображений | ru |
| dc.subject.rubbk | ru | |
| dc.subject.rugasnti | ru | |
| dc.subject.udc | ru | |
| dc.title | Анализ дефектов на снимках материалов с использованием гибридных квантово-классических нейронных сетей | ru |
| dc.title.alternative | ru | |
| dc.type | Type Text | ru |
| Appears in Collections: | Информационные технологии и нанотехнологии | |
Files in This Item:
| File | Size | Format | |
|---|---|---|---|
| 978-5-7883-2262-9_2025-215-216.pdf | 111.95 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in Repository are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.