Title: Анализ погрешностей юстировки по картине дифракции лазерного излучения на микроаксиконах
Other Titles: 
Authors: Кашапов Р. И.
Keywords: аберрации
аксикон
дифракция
искусственный интеллект
сверточная нейронная сеть
Issue Date: 2025
Publisher: Publisher
Citation: Кашапов, Р. И. Анализ погрешностей юстировки по картине дифракции лазерного излучения на микроаксиконах / Р. И. Кашапов // Информационные технологии и нанотехнологии (ИТНТ-2025) : материалы XI междунар. конф. и молодеж. шк. (г. Самарканд, Узбекистан, 7-9 окт. 2025 г.) / М-во науки и высш. образования Рос. Федерации, Самар. нац. исслед. ун-т им. С. П. Королева (Самар. ун-т). - Самара : Изд-во Самар. ун-та, 2025. - С. 010932.
Abstract: В данной работе представлена разработкапрограммного обеспечения для анализа данных,полученных при моделировании дифракции лазерногоизлучения на микроаксиконах с учетом такихпогрешностей юстировки, как смещение и наклоноптического элемента по отношению к падающемуизлучению. При рассмотрении аксикона в виде тонкогоэлемента моделирование наклона выполнялось сиспользованием внесения волновых аберраций впадающий пучок, таких как астигматизм и кома. Дляклассификации дифракционных картин разработана иобучена свёрточная нейронная сеть, котораядемонстрирует высокую точность при определении типааберрации.
ISBN: 
ISSN: 
ISMN: 
Other Identifiers: RU\НТБ СГАУ\581961
Appears in Collections:Информационные технологии и нанотехнологии

Files in This Item:
File SizeFormat 
978-5-7883-2262-9_2025-57-58.pdf123.52 kBAdobe PDFView/Open


Items in Repository are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.