| Title: | Анализ погрешностей юстировки по картине дифракции лазерного излучения на микроаксиконах |
| Other Titles: | |
| Authors: | Кашапов Р. И. |
| Keywords: | аберрации аксикон дифракция искусственный интеллект сверточная нейронная сеть |
| Issue Date: | 2025 |
| Publisher: | Publisher |
| Citation: | Кашапов, Р. И. Анализ погрешностей юстировки по картине дифракции лазерного излучения на микроаксиконах / Р. И. Кашапов // Информационные технологии и нанотехнологии (ИТНТ-2025) : материалы XI междунар. конф. и молодеж. шк. (г. Самарканд, Узбекистан, 7-9 окт. 2025 г.) / М-во науки и высш. образования Рос. Федерации, Самар. нац. исслед. ун-т им. С. П. Королева (Самар. ун-т). - Самара : Изд-во Самар. ун-та, 2025. - С. 010932. |
| Abstract: | В данной работе представлена разработкапрограммного обеспечения для анализа данных,полученных при моделировании дифракции лазерногоизлучения на микроаксиконах с учетом такихпогрешностей юстировки, как смещение и наклоноптического элемента по отношению к падающемуизлучению. При рассмотрении аксикона в виде тонкогоэлемента моделирование наклона выполнялось сиспользованием внесения волновых аберраций впадающий пучок, таких как астигматизм и кома. Дляклассификации дифракционных картин разработана иобучена свёрточная нейронная сеть, котораядемонстрирует высокую точность при определении типааберрации. |
| ISBN: | |
| ISSN: | |
| ISMN: | |
| Other Identifiers: | RU\НТБ СГАУ\581961 |
| Appears in Collections: | Информационные технологии и нанотехнологии |
Files in This Item:
| File | Size | Format | |
|---|---|---|---|
| 978-5-7883-2262-9_2025-57-58.pdf | 123.52 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in Repository are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.