Анализ погрешностей юстировки по картине дифракции лазерного излучения на микроаксиконах

Abstract

В данной работе представлена разработкапрограммного обеспечения для анализа данных,полученных при моделировании дифракции лазерногоизлучения на микроаксиконах с учетом такихпогрешностей юстировки, как смещение и наклоноптического элемента по отношению к падающемуизлучению. При рассмотрении аксикона в виде тонкогоэлемента моделирование наклона выполнялось сиспользованием внесения волновых аберраций впадающий пучок, таких как астигматизм и кома. Дляклассификации дифракционных картин разработана иобучена свёрточная нейронная сеть, котораядемонстрирует высокую точность при определении типааберрации.