Title: Тестер внутрисхемного контроля биполярных транзисторов
Authors: Курицкий А. А.
Афанасьев П. Н.
Keywords: тестер устройства
помехоустойчивость
внутрисхемный контроль параметров
быстродействие
биполярные транзисторы
Issue Date: 2010
Citation: Курицкий, А. А. Тестер внутрисхемного контроля биполярных транзисторов / А. А. Курицкий, П. Н. Афанасьев // Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций : материалы Всерос. науч.-техн. конф., 25-27 мая 2010 г. / М-во образования и науки Рос. Федерации, Самар. гос. аэрокосм. ун-т им. С. П. Королева (нац. исслед. ун-т) ; под ред. М. Н. Пиганова. - Самара : Изд-во СГАУ, 2010. - С. 37-38.
URI: http://repo.ssau.ru/jspui/handle/123456789/5948
Appears in Collections:Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций

Files in This Item:
File SizeFormat 
978-5-7883-0819-7_2010-37-38.pdf91.26 kBAdobe PDFView/Open


Items in Repository are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.