| Title: | Тестер внутрисхемного контроля биполярных транзисторов |
| Authors: | Курицкий А. А. Афанасьев П. Н. |
| Keywords: | тестер устройства помехоустойчивость внутрисхемный контроль параметров быстродействие биполярные транзисторы |
| Issue Date: | 2010 |
| Citation: | Курицкий, А. А. Тестер внутрисхемного контроля биполярных транзисторов / А. А. Курицкий, П. Н. Афанасьев // Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций : материалы Всерос. науч.-техн. конф., 25-27 мая 2010 г. / М-во образования и науки Рос. Федерации, Самар. гос. аэрокосм. ун-т им. С. П. Королева (нац. исслед. ун-т) ; под ред. М. Н. Пиганова. - Самара : Изд-во СГАУ, 2010. - С. 37-38. |
| URI: | http://repo.ssau.ru/jspui/handle/123456789/5948 |
| Appears in Collections: | Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций |
Files in This Item:
| File | Size | Format | |
|---|---|---|---|
| 978-5-7883-0819-7_2010-37-38.pdf | 91.26 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in Repository are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.