Full metadata record
| DC Field | Value | Language |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | Курицкий А. А. | |
| dc.contributor.author | Афанасьев П. Н. | |
| dc.coverage.spatial | тестер устройства | |
| dc.coverage.spatial | помехоустойчивость | |
| dc.coverage.spatial | внутрисхемный контроль параметров | |
| dc.coverage.spatial | быстродействие | |
| dc.coverage.spatial | биполярные транзисторы | |
| dc.creator | Курицкий А. А., Афанасьев П. Н. | |
| dc.date | 2010 | |
| dc.date.accessioned | 2025-08-22T12:09:58Z | - |
| dc.date.available | 2025-08-22T12:09:58Z | - |
| dc.date.issued | 2010 | |
| dc.identifier.identifier | RU\НТБ СГАУ\559666 | |
| dc.identifier.citation | Курицкий, А. А. Тестер внутрисхемного контроля биполярных транзисторов / А. А. Курицкий, П. Н. Афанасьев // Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций : материалы Всерос. науч.-техн. конф., 25-27 мая 2010 г. / М-во образования и науки Рос. Федерации, Самар. гос. аэрокосм. ун-т им. С. П. Королева (нац. исслед. ун-т) ; под ред. М. Н. Пиганова. - Самара : Изд-во СГАУ, 2010. - С. 37-38. | |
| dc.identifier.uri | http://repo.ssau.ru/jspui/handle/123456789/5948 | - |
| dc.language | rus | |
| dc.source | Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций : материалы Всерос. науч.-техн. конф., 25-27 мая 2010 г. - Текст : электронный | |
| dc.subject | тестер устройства | |
| dc.subject | помехоустойчивость | |
| dc.subject | внутрисхемный контроль параметров | |
| dc.subject | быстродействие | |
| dc.subject | биполярные транзисторы | |
| dc.title | Тестер внутрисхемного контроля биполярных транзисторов | |
| dc.type | Text | |
| dc.citation.epage | 38 | |
| dc.citation.spage | 37 | |
| local.contributor.author | Курицкий А. А. | |
| local.contributor.author | Афанасьев П. Н. | |
| local.identifier.olduri | http://repo.ssau.ru/handle/Aktualnye-problemy-radioelektroniki-i-telekommunikacii/Tester-vnutrishemnogo-kontrolya-bipolyarnyh-tranzistorov-111004 | |
| local.identifier.olduri | http://repo.ssau.ru/handle/Aktualnye-problemy-radioelektroniki-i-telekommunikacii/Tester-vnutrishemnogo-kontrolya-bipolyarnyh-tranzistorov-111004 | |
| Appears in Collections: | Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций | |
Files in This Item:
| File | Size | Format | |
|---|---|---|---|
| 978-5-7883-0819-7_2010-37-38.pdf | 91.26 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in Repository are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.