Title: Surface Characterization Techniques: From Theory to Research
Authors: Kumar R.
Keywords: X-ray diffraction (XRD)
рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия (XPS)
сканирующая туннельная микроскопия
сканирующая электронная микроскопия (SEM)
спектроскопия в УФ-видимом диапазоне
спектроскопия ядерного магнитного резонанса
температурно-программируемые методы исследования поверхности
Fourier-transform infrared spectroscopy (FT-IR)
nuclear magnetic resonance spectroscopy
scanning electron microscopy (SEM)
scanning tunneling microscopy
surface area
surface characterization techniques
surface porosity
temperature-programmed surface techniques
transmission electron microscopy (TEM)
UV–vis spectroscopy
X-ray photoelectron spectroscopy (XPS)
инфракрасная спектроскопия с преобразованием Фурье (FT-IR)
методы характеристики поверхности
площадь поверхности
пористость поверхности
просвечивающая электронная микроскопия (TEM)
рентгеновская дифракция (XRD)
Issue Date: 2022
Publisher: De Gruyter
Citation: Kumar, R. Surface Characterization Techniques: From Theory to Research / Rawesh Kumar. - Berlin : De Gruyter, 2022. - 1 file (221 Mb) (209 p.). - ISBN = 9783110655995, 9783110656480, 9783110656589. - Текст : электронный
Abstract: This book covers 10 surface characterization techniques divided into three sections. The first section covers the theoretical background, instrumentation and their salient features and a general understanding behind the results. The second section delves into deeper discussion of every terminology and concept. The third section is composed of 5 sets of examples from different research papers for every technique.
В трех разделах книги рассмотрены 10 методов определения характеристик поверхности. В первом разделе рассматриваются теоретические основы, приборы для определения характеристик поверхности и их основные особенности, а также описана общая методика интерпретации результатов. Во втором разделе понятия детализированы. Третий раздел состоит из 5 групп примеров по применению каждой методики, взятых из различных исследовательских работ.
Используемые программы Adobe Acrobat
URI: http://repo.ssau.ru/jspui/handle/123456789/59466
ISBN: 9783110655995
9783110656480
9783110656589
Appears in Collections:eBooks

Files in This Item:
File SizeFormat 
3175822.pdf226.54 MBAdobe PDFView/Open    Request a copy


Items in Repository are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.