1. Репозиторий Самарского национального исследовательского университета имени академика С.П. Королёва
  2. 02. Монографии и сборники научных трудов
  3. eBooks
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorKumar R.
dc.coverage.spatialFourier-transform infrared spectroscopy (FT-IR)
dc.coverage.spatialnuclear magnetic resonance spectroscopy
dc.coverage.spatialscanning electron microscopy (SEM)
dc.coverage.spatialscanning tunneling microscopy
dc.coverage.spatialsurface area
dc.coverage.spatialsurface characterization techniques
dc.coverage.spatialsurface porosity
dc.coverage.spatialtemperature-programmed surface techniques
dc.coverage.spatialtransmission electron microscopy (TEM)
dc.coverage.spatialUV–vis spectroscopy
dc.coverage.spatialX-ray diffraction (XRD)
dc.coverage.spatialX-ray photoelectron spectroscopy (XPS)
dc.coverage.spatialинфракрасная спектроскопия с преобразованием Фурье (FT-IR)
dc.coverage.spatialметоды характеристики поверхности
dc.coverage.spatialплощадь поверхности
dc.coverage.spatialпористость поверхности
dc.coverage.spatialпросвечивающая электронная микроскопия (TEM)
dc.coverage.spatialрентгеновская дифракция (XRD)
dc.coverage.spatialрентгеновская фотоэлектронная спектроскопия (XPS)
dc.coverage.spatialсканирующая туннельная микроскопия
dc.coverage.spatialсканирующая электронная микроскопия (SEM)
dc.coverage.spatialспектроскопия в УФ-видимом диапазоне
dc.coverage.spatialспектроскопия ядерного магнитного резонанса
dc.coverage.spatialтемпературно-программируемые методы исследования поверхности
dc.creatorKumar R.
dc.date2022
dc.date.accessioned2025-11-28T08:07:26Z-
dc.date.available2025-11-28T08:07:26Z-
dc.date.issued2022
dc.identifier.identifier3175822
dc.identifier.citationKumar, R. Surface Characterization Techniques: From Theory to Research / Rawesh Kumar. - Berlin : De Gruyter, 2022. - 1 file (221 Mb) (209 p.). - ISBN = 9783110655995, 9783110656480, 9783110656589. - Текст : электронный
dc.identifier.isbn9783110655995
dc.identifier.isbn9783110656480
dc.identifier.isbn9783110656589
dc.identifier.urihttp://repo.ssau.ru/jspui/handle/123456789/59466-
dc.description.abstractThis book covers 10 surface characterization techniques divided into three sections. The first section covers the theoretical background, instrumentation and their salient features and a general understanding behind the results. The second section delves into deeper discussion of every terminology and concept. The third section is composed of 5 sets of examples from different research papers for every technique.
dc.description.abstractВ трех разделах книги рассмотрены 10 методов определения характеристик поверхности. В первом разделе рассматриваются теоретические основы, приборы для определения характеристик поверхности и их основные особенности, а также описана общая методика интерпретации результатов. Во втором разделе понятия детализированы. Третий раздел состоит из 5 групп примеров по применению каждой методики, взятых из различных исследовательских работ.
dc.description.abstractИспользуемые программы Adobe Acrobat
dc.languageeng
dc.publisherDe Gruyter
dc.subjectX-ray diffraction (XRD)
dc.subjectрентгеновская фотоэлектронная спектроскопия (XPS)
dc.subjectсканирующая туннельная микроскопия
dc.subjectсканирующая электронная микроскопия (SEM)
dc.subjectспектроскопия в УФ-видимом диапазоне
dc.subjectспектроскопия ядерного магнитного резонанса
dc.subjectтемпературно-программируемые методы исследования поверхности
dc.subjectFourier-transform infrared spectroscopy (FT-IR)
dc.subjectnuclear magnetic resonance spectroscopy
dc.subjectscanning electron microscopy (SEM)
dc.subjectscanning tunneling microscopy
dc.subjectsurface area
dc.subjectsurface characterization techniques
dc.subjectsurface porosity
dc.subjecttemperature-programmed surface techniques
dc.subjecttransmission electron microscopy (TEM)
dc.subjectUV–vis spectroscopy
dc.subjectX-ray photoelectron spectroscopy (XPS)
dc.subjectинфракрасная спектроскопия с преобразованием Фурье (FT-IR)
dc.subjectметоды характеристики поверхности
dc.subjectплощадь поверхности
dc.subjectпористость поверхности
dc.subjectпросвечивающая электронная микроскопия (TEM)
dc.subjectрентгеновская дифракция (XRD)
dc.subject.rugasnti29.31.26
dc.subject.udc535.33
dc.titleSurface Characterization Techniques: From Theory to Research
dc.typeText
local.identifier.oldurihttp://repo.ssau.ru/handle/eBooks/Surface-Characterization-Techniques-From-Theory-to-Research-115272
local.identifier.oldurihttp://repo.ssau.ru/handle/eBooks/Surface-Characterization-Techniques-From-Theory-to-Research-115272
Appears in Collections:eBooks

Files in This Item:
File SizeFormat 
3175822.pdf226.54 MBAdobe PDFView/Open    Request a copy
Show simple item record


Items in Repository are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.