Title: Моделирование растекания ньютоновской капли по поверхности диэлектрической подложки
Authors: Подлипнов В. В.
Колпаков А. И.
Keywords: диэлектрические подложки
измерение чистоты поверхности
концентрация органических загрязнений
механизм растекания
ньютоновские жидкости
производство интегральных микросхем
скорость растекания капли
степень загрязнения поверхности
угол смачивания
Issue Date: 2009
Citation: Подлипнов, В. В. Моделирование растекания ньютоновской капли по поверхности диэлектрической подложки / В. В. Подлипнов, А. И. Колпаков // Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций : материалы Всерос. науч.-техн. конф. 12-14 мая 2009 г. / М-во образования и науки Рос. Федерации, Федер. агентство по образованию, Самар. гос. аэрокосм. ун-т им. С. П. Королева ; под ред. М. Н. Пиганова. - Самара : Изд-во СГАУ, 2009. - [Ч. 1]. - С. 158-159.
URI: http://repo.ssau.ru/jspui/handle/123456789/5928
Appears in Collections:Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций

Files in This Item:
File SizeFormat 
978-5-7883-0672-8_2009-158-159.pdf95.12 kBAdobe PDFView/Open


Items in Repository are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.