| Title: | Моделирование растекания ньютоновской капли по поверхности диэлектрической подложки |
| Authors: | Подлипнов В. В. Колпаков А. И. |
| Keywords: | диэлектрические подложки измерение чистоты поверхности концентрация органических загрязнений механизм растекания ньютоновские жидкости производство интегральных микросхем скорость растекания капли степень загрязнения поверхности угол смачивания |
| Issue Date: | 2009 |
| Citation: | Подлипнов, В. В. Моделирование растекания ньютоновской капли по поверхности диэлектрической подложки / В. В. Подлипнов, А. И. Колпаков // Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций : материалы Всерос. науч.-техн. конф. 12-14 мая 2009 г. / М-во образования и науки Рос. Федерации, Федер. агентство по образованию, Самар. гос. аэрокосм. ун-т им. С. П. Королева ; под ред. М. Н. Пиганова. - Самара : Изд-во СГАУ, 2009. - [Ч. 1]. - С. 158-159. |
| URI: | http://repo.ssau.ru/jspui/handle/123456789/5928 |
| Appears in Collections: | Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций |
Files in This Item:
| File | Size | Format | |
|---|---|---|---|
| 978-5-7883-0672-8_2009-158-159.pdf | 95.12 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in Repository are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.