Samara University Repository
Welcome!
| Title: | Емкостные методы исследования дефектов полупроводников |
| Authors: | Боднарчук Г. А. |
| Keywords: | емкостная спектроскопия емкостные методы измерения дефекты кристаллической решетки изотермическая релаксация емкости изотермическая релаксация тока параметры дефектов полупроводниковые материалы метод постоянной емкости термостимулированная релаксация емкости фотоемкость |
| Issue Date: | 2009 |
| Citation: | Боднарчук, Г. А. Емкостные методы исследования дефектов полупроводников / Г. А. Боднарчук // Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций : материалы Всерос. науч.-техн. конф. 12-14 мая 2009 г. / М-во образования и науки Рос. Федерации, Федер. агентство по образованию, Самар. гос. аэрокосм. ун-т им. С. П. Королева ; под ред. М. Н. Пиганова. - Самара : Изд-во СГАУ, 2009. - [Ч. 1]. - С. 22-26. |
| URI: | http://repo.ssau.ru/jspui/handle/123456789/5881 |
| Appears in Collections: | Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций |
Files in This Item:
| File | Size | Format | |
|---|---|---|---|
| 978-5-7883-0672-8_2009-22-26.pdf | 613.37 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in Repository are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.