Full metadata record
| DC Field | Value | Language |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | Боднарчук Г. А. | |
| dc.coverage.spatial | емкостная спектроскопия | |
| dc.coverage.spatial | емкостные методы измерения | |
| dc.coverage.spatial | дефекты кристаллической решетки | |
| dc.coverage.spatial | изотермическая релаксация емкости | |
| dc.coverage.spatial | изотермическая релаксация тока | |
| dc.coverage.spatial | параметры дефектов | |
| dc.coverage.spatial | полупроводниковые материалы | |
| dc.coverage.spatial | метод постоянной емкости | |
| dc.coverage.spatial | термостимулированная релаксация емкости | |
| dc.coverage.spatial | фотоемкость | |
| dc.creator | Боднарчук Г. А. | |
| dc.date | 2009 | |
| dc.date.accessioned | 2025-08-22T12:09:36Z | - |
| dc.date.available | 2025-08-22T12:09:36Z | - |
| dc.date.issued | 2009 | |
| dc.identifier.identifier | RU\НТБ СГАУ\559235 | |
| dc.identifier.citation | Боднарчук, Г. А. Емкостные методы исследования дефектов полупроводников / Г. А. Боднарчук // Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций : материалы Всерос. науч.-техн. конф. 12-14 мая 2009 г. / М-во образования и науки Рос. Федерации, Федер. агентство по образованию, Самар. гос. аэрокосм. ун-т им. С. П. Королева ; под ред. М. Н. Пиганова. - Самара : Изд-во СГАУ, 2009. - [Ч. 1]. - С. 22-26. | |
| dc.identifier.uri | http://repo.ssau.ru/jspui/handle/123456789/5881 | - |
| dc.language | rus | |
| dc.relation.ispartof | Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций : материалы Всерос. науч.-техн. конф. 12-14 мая 2009 г. - Текст : электронный | |
| dc.source | Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций. - [Ч. 1] | |
| dc.subject | емкостная спектроскопия | |
| dc.subject | емкостные методы измерения | |
| dc.subject | дефекты кристаллической решетки | |
| dc.subject | изотермическая релаксация емкости | |
| dc.subject | изотермическая релаксация тока | |
| dc.subject | параметры дефектов | |
| dc.subject | полупроводниковые материалы | |
| dc.subject | метод постоянной емкости | |
| dc.subject | термостимулированная релаксация емкости | |
| dc.subject | фотоемкость | |
| dc.title | Емкостные методы исследования дефектов полупроводников | |
| dc.type | Text | |
| dc.citation.epage | 26 | |
| dc.citation.spage | 22 | |
| local.contributor.author | Боднарчук Г. А. | |
| local.identifier.olduri | http://repo.ssau.ru/handle/Aktualnye-problemy-radioelektroniki-i-telekommunikacii/Emkostnye-metody-issledovaniya-defektov-poluprovodnikov-110685 | |
| local.identifier.olduri | http://repo.ssau.ru/handle/Aktualnye-problemy-radioelektroniki-i-telekommunikacii/Emkostnye-metody-issledovaniya-defektov-poluprovodnikov-110685 | |
| Appears in Collections: | Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций | |
Files in This Item:
| File | Size | Format | |
|---|---|---|---|
| 978-5-7883-0672-8_2009-22-26.pdf | 613.37 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in Repository are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.