| Title: | Исследование параметров тонкопленочных резистивных элементов |
| Authors: | Воеводина П. А. Советкина М. А. |
| Keywords: | тонкопленочные резистивные элементы тонкопленочные технологии поверхностные дефекты сравнительный анализ растровая электронная микроскопия интерферометры белого света магнетронное распыление контроль параметров |
| Issue Date: | 2024 |
| Citation: | Воеводина, П. А. Исследование параметров тонкопленочных резистивных элементов / П. А. Воеводина, М. А. Советкина // Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций : материалы Всерос. науч.-техн. конф. (г.Самара, 23-26 апр. 2024 г.) / Самар. нац. исслед. ун-т им. С. П. Королева (Самар. ун-т) ; под ред. В. А. Зеленского. - Самара : [Артель], 2024. - С. 283-285. |
| URI: | http://repo.ssau.ru/jspui/handle/123456789/5873 |
| Appears in Collections: | Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций |
Files in This Item:
| File | Size | Format | |
|---|---|---|---|
| 978-5-903943-20-3_2024-283-285.pdf | 464.15 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in Repository are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.