Title: Материаловедение и метрология наноструктур (свойства, особенности и исследование материалов)
Authors: Шевченко В. Я.
Жабрев В. А.
Гречников Ф. В.
Михеев В. А.
Keywords: методы контроля
метрологическая база
фрактальная геометрия
учебные издания
свойства материалов
нанокристаллические материалы
конструкционные материалы
Issue Date: 2010
Citation: Материаловедение и метрология наноструктур (свойства, особенности и исследование материалов) : учеб. пособие / В. Я. Шевченко, В. А. Жабрее, Ф. В. Гречников, В. А. Михеев ; М-во образования и науки Рос. Федерации, Самар. гос. аэрокосм. ун-т им. С. П. Королева (нац. исслед. ун-т). - Самара, 2010. - 1 файл (6,2 Мб). - ISBN = 978-5-7883-0750-3. - Текст : электронный
Abstract: Используемые программы Adobe Acrobat
Рассмотрены традиционные и перспективные материалы, основные положения, используемые в материаловедении. Показано, что перспективные материалы применяются пока в микроэлектронике и в некоторых других областях техники (фуллерены, фуллериты, углеродные нанотрубки, ультрадисперсные и нанокристаллические материалы), что фундаментальные исследования связаны с прямыми измерениями, а это требует понимания закономерностей физического взаимодействия измерительного средства с объектом измерения. Описаны вопросы метрологии и стандартизации таких измерений и метрологическое обеспечение. Книга предназначена для студентов высших учебных заведений, обучающихся по специальности 210602 "Наноматериалы", в том числе для инженеров, работающих в смежных областях.
Труды сотрудников СГАУ (электрон. версия)
URI: http://repo.ssau.ru/jspui/handle/123456789/57982
ISBN: 978-5-7883-0750-3
Appears in Collections:Учебные издания

Files in This Item:
File SizeFormat 
978-5-7883-0750-3_2010.pdf6.39 MBAdobe PDFView/Open


Items in Repository are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.