| Title: | Материаловедение и метрология наноструктур (свойства, особенности и исследование материалов) |
| Authors: | Шевченко В. Я. Жабрев В. А. Гречников Ф. В. Михеев В. А. |
| Keywords: | методы контроля метрологическая база фрактальная геометрия учебные издания свойства материалов нанокристаллические материалы конструкционные материалы |
| Issue Date: | 2010 |
| Citation: | Материаловедение и метрология наноструктур (свойства, особенности и исследование материалов) : учеб. пособие / В. Я. Шевченко, В. А. Жабрее, Ф. В. Гречников, В. А. Михеев ; М-во образования и науки Рос. Федерации, Самар. гос. аэрокосм. ун-т им. С. П. Королева (нац. исслед. ун-т). - Самара, 2010. - 1 файл (6,2 Мб). - ISBN = 978-5-7883-0750-3. - Текст : электронный |
| Abstract: | Используемые программы Adobe Acrobat Рассмотрены традиционные и перспективные материалы, основные положения, используемые в материаловедении. Показано, что перспективные материалы применяются пока в микроэлектронике и в некоторых других областях техники (фуллерены, фуллериты, углеродные нанотрубки, ультрадисперсные и нанокристаллические материалы), что фундаментальные исследования связаны с прямыми измерениями, а это требует понимания закономерностей физического взаимодействия измерительного средства с объектом измерения. Описаны вопросы метрологии и стандартизации таких измерений и метрологическое обеспечение. Книга предназначена для студентов высших учебных заведений, обучающихся по специальности 210602 "Наноматериалы", в том числе для инженеров, работающих в смежных областях. Труды сотрудников СГАУ (электрон. версия) |
| URI: | http://repo.ssau.ru/jspui/handle/123456789/57982 |
| ISBN: | 978-5-7883-0750-3 |
| Appears in Collections: | Учебные издания |
Files in This Item:
| File | Size | Format | |
|---|---|---|---|
| 978-5-7883-0750-3_2010.pdf | 6.39 MB | Adobe PDF | View/Open |
Items in Repository are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.