Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorШевченко В. Я.
dc.contributor.authorЖабрев В. А.
dc.contributor.authorГречников Ф. В.
dc.contributor.authorМихеев В. А.
dc.coverage.spatialконструкционные материалы
dc.coverage.spatialметоды контроля
dc.coverage.spatialметрологическая база
dc.coverage.spatialнанокристаллические материалы
dc.coverage.spatialсвойства материалов
dc.coverage.spatialучебные издания
dc.coverage.spatialфрактальная геометрия
dc.creatorШевченко В. Я., Жабрев В. А., Гречников Ф. В., Михеев В. А.
dc.date2010
dc.date.accessioned2025-11-28T05:52:24Z-
dc.date.available2025-11-28T05:52:24Z-
dc.date.issued2010
dc.identifier.identifierRU\НТБ СГАУ\573308
dc.identifier.citationМатериаловедение и метрология наноструктур (свойства, особенности и исследование материалов) : учеб. пособие / В. Я. Шевченко, В. А. Жабрее, Ф. В. Гречников, В. А. Михеев ; М-во образования и науки Рос. Федерации, Самар. гос. аэрокосм. ун-т им. С. П. Королева (нац. исслед. ун-т). - Самара, 2010. - 1 файл (6,2 Мб). - ISBN = 978-5-7883-0750-3. - Текст : электронный
dc.identifier.isbn978-5-7883-0750-3
dc.identifier.urihttp://repo.ssau.ru/jspui/handle/123456789/57982-
dc.description.abstractИспользуемые программы Adobe Acrobat
dc.description.abstractРассмотрены традиционные и перспективные материалы, основные положения, используемые в материаловедении. Показано, что перспективные материалы применяются пока в микроэлектронике и в некоторых других областях техники (фуллерены, фуллериты, углеродные нанотрубки, ультрадисперсные и нанокристаллические материалы), что фундаментальные исследования связаны с прямыми измерениями, а это требует понимания закономерностей физического взаимодействия измерительного средства с объектом измерения. Описаны вопросы метрологии и стандартизации таких измерений и метрологическое обеспечение. Книга предназначена для студентов высших учебных заведений, обучающихся по специальности 210602 "Наноматериалы", в том числе для инженеров, работающих в смежных областях.
dc.description.abstractТруды сотрудников СГАУ (электрон. версия)
dc.languagerus
dc.relation.isformatofМатериаловедение и метрология наноструктур (свойства, особенности и исследование материалов) : учеб. пособие. - Текст : непосредственный
dc.subjectметоды контроля
dc.subjectметрологическая база
dc.subjectфрактальная геометрия
dc.subjectучебные издания
dc.subjectсвойства материалов
dc.subjectнанокристаллические материалы
dc.subjectконструкционные материалы
dc.subject.rugasnti67.09.05
dc.subject.udc620.22(075)
dc.titleМатериаловедение и метрология наноструктур (свойства, особенности и исследование материалов)
dc.typeText
local.contributor.authorСамарский государственный аэрокосмический университет им. С. П. Королева (национальный исследовательский университет) (СГАУ)
local.contributor.authorМинистерство образования и науки Российской Федерации
local.identifier.oldurihttp://repo.ssau.ru/handle/Uchebnye-izdaniya/Materialovedenie-i-metrologiya-nanostruktur-svoistva-osobennosti-i-issledovanie-materialov-114872
local.identifier.oldurihttp://repo.ssau.ru/handle/Uchebnye-izdaniya/Materialovedenie-i-metrologiya-nanostruktur-svoistva-osobennosti-i-issledovanie-materialov-114872
Appears in Collections:Учебные издания

Files in This Item:
File SizeFormat 
978-5-7883-0750-3_2010.pdf6.39 MBAdobe PDFView/Open


Items in Repository are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.