Full metadata record
| DC Field | Value | Language |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | Шевченко В. Я. | |
| dc.contributor.author | Жабрев В. А. | |
| dc.contributor.author | Гречников Ф. В. | |
| dc.contributor.author | Михеев В. А. | |
| dc.coverage.spatial | конструкционные материалы | |
| dc.coverage.spatial | методы контроля | |
| dc.coverage.spatial | метрологическая база | |
| dc.coverage.spatial | нанокристаллические материалы | |
| dc.coverage.spatial | свойства материалов | |
| dc.coverage.spatial | учебные издания | |
| dc.coverage.spatial | фрактальная геометрия | |
| dc.creator | Шевченко В. Я., Жабрев В. А., Гречников Ф. В., Михеев В. А. | |
| dc.date | 2010 | |
| dc.date.accessioned | 2025-11-28T05:52:24Z | - |
| dc.date.available | 2025-11-28T05:52:24Z | - |
| dc.date.issued | 2010 | |
| dc.identifier.identifier | RU\НТБ СГАУ\573308 | |
| dc.identifier.citation | Материаловедение и метрология наноструктур (свойства, особенности и исследование материалов) : учеб. пособие / В. Я. Шевченко, В. А. Жабрее, Ф. В. Гречников, В. А. Михеев ; М-во образования и науки Рос. Федерации, Самар. гос. аэрокосм. ун-т им. С. П. Королева (нац. исслед. ун-т). - Самара, 2010. - 1 файл (6,2 Мб). - ISBN = 978-5-7883-0750-3. - Текст : электронный | |
| dc.identifier.isbn | 978-5-7883-0750-3 | |
| dc.identifier.uri | http://repo.ssau.ru/jspui/handle/123456789/57982 | - |
| dc.description.abstract | Используемые программы Adobe Acrobat | |
| dc.description.abstract | Рассмотрены традиционные и перспективные материалы, основные положения, используемые в материаловедении. Показано, что перспективные материалы применяются пока в микроэлектронике и в некоторых других областях техники (фуллерены, фуллериты, углеродные нанотрубки, ультрадисперсные и нанокристаллические материалы), что фундаментальные исследования связаны с прямыми измерениями, а это требует понимания закономерностей физического взаимодействия измерительного средства с объектом измерения. Описаны вопросы метрологии и стандартизации таких измерений и метрологическое обеспечение. Книга предназначена для студентов высших учебных заведений, обучающихся по специальности 210602 "Наноматериалы", в том числе для инженеров, работающих в смежных областях. | |
| dc.description.abstract | Труды сотрудников СГАУ (электрон. версия) | |
| dc.language | rus | |
| dc.relation.isformatof | Материаловедение и метрология наноструктур (свойства, особенности и исследование материалов) : учеб. пособие. - Текст : непосредственный | |
| dc.subject | конструкционные материалы | |
| dc.subject | методы контроля | |
| dc.subject | метрологическая база | |
| dc.subject | нанокристаллические материалы | |
| dc.subject | свойства материалов | |
| dc.subject | учебные издания | |
| dc.subject | фрактальная геометрия | |
| dc.subject.rugasnti | 67.09.05 | |
| dc.subject.udc | 620.22(075) | |
| dc.title | Материаловедение и метрология наноструктур (свойства, особенности и исследование материалов) | |
| dc.type | Text | |
| local.contributor.author | Министерство образования и науки Российской Федерации | |
| local.contributor.author | Самарский государственный аэрокосмический университет им. С. П. Королева (национальный исследовательский университет) (СГАУ) | |
| local.identifier.olduri | http://repo.ssau.ru/handle/Uchebnye-izdaniya/Materialovedenie-i-metrologiya-nanostruktur-svoistva-osobennosti-i-issledovanie-materialov-114872 | |
| local.identifier.olduri | http://repo.ssau.ru/handle/Uchebnye-izdaniya/Materialovedenie-i-metrologiya-nanostruktur-svoistva-osobennosti-i-issledovanie-materialov-114872 | |
| Appears in Collections: | Учебные издания | |
Files in This Item:
| File | Size | Format | |
|---|---|---|---|
| 978-5-7883-0750-3_2010.pdf | 6.39 MB | Adobe PDF | View/Open |
Items in Repository are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.