Title: Оптимизация блока тестирования параметризованной ячейки статической памяти
Authors: Бобров А. А.
Козлова И. Н.
Шишкина Д. А.
Keywords: встроенная система самотестирования
оперативные запоминающие устройства (ОЗУ)
параметризованные ячейки статической памяти
статическое оперативное запоминающее устройство
Issue Date: 2021
Citation: Бобров, А. А. Оптимизация блока тестирования параметризованной ячейки статической памяти : вып. квалификац. работа по направлению подгот. 11.03.04 "Электроника и наноэлектроника" (уровень бакалавриата) / А. А. Бобров ; рук. работы И. Н. Козлова ; нормоконтролер Д. А. Шишкина ; М-во науки и высш. образования Рос. Федерации, Самар. нац. исслед. ун-т им. С. П. Королева (Самар. ун-т), Ин-т информатики, ма. - Самара, 2021. - on-line
Abstract: В работе рассматриваются методы верификации оперативных запоминающих устройств, а именно статический ОЗУ, свойственные им модели неисправностей, а также структуры встроенной системы самотестирования. Цель работы – оптимизация метода верификации статического оперативного запоминающего устройства по критерию время тестирования.Оптимизирован метод верификации в соответствии с целью работы. Синтезирована структура ВССТ. Были получены отсчёты по быстродействию, занимаемой площади и мощности.
URI: http://repo.ssau.ru/jspui/handle/123456789/55023
Appears in Collections:Выпускные квалификационные работы



Items in Repository are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.