| Title: | Оптимизация блока тестирования параметризованной ячейки статической памяти |
| Authors: | Бобров А. А. Козлова И. Н. Шишкина Д. А. |
| Keywords: | встроенная система самотестирования оперативные запоминающие устройства (ОЗУ) параметризованные ячейки статической памяти статическое оперативное запоминающее устройство |
| Issue Date: | 2021 |
| Citation: | Бобров, А. А. Оптимизация блока тестирования параметризованной ячейки статической памяти : вып. квалификац. работа по направлению подгот. 11.03.04 "Электроника и наноэлектроника" (уровень бакалавриата) / А. А. Бобров ; рук. работы И. Н. Козлова ; нормоконтролер Д. А. Шишкина ; М-во науки и высш. образования Рос. Федерации, Самар. нац. исслед. ун-т им. С. П. Королева (Самар. ун-т), Ин-т информатики, ма. - Самара, 2021. - on-line |
| Abstract: | В работе рассматриваются методы верификации оперативных запоминающих устройств, а именно статический ОЗУ, свойственные им модели неисправностей, а также структуры встроенной системы самотестирования. Цель работы – оптимизация метода верификации статического оперативного запоминающего устройства по критерию время тестирования.Оптимизирован метод верификации в соответствии с целью работы. Синтезирована структура ВССТ. Были получены отсчёты по быстродействию, занимаемой площади и мощности. |
| URI: | http://repo.ssau.ru/jspui/handle/123456789/55023 |
| Appears in Collections: | Выпускные квалификационные работы |
Files in This Item:
| File | Size | Format | |
|---|---|---|---|
| Бобров_Александр_Андреевич_Оптимизация_блока_тестирования_параметризованной.pdf | 2.26 MB | Adobe PDF | View/Open Request a copy |
Items in Repository are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.