Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorБобров А. А.
dc.contributor.authorКозлова И. Н.
dc.contributor.authorШишкина Д. А.
dc.coverage.spatialвстроенная система самотестирования
dc.coverage.spatialоперативные запоминающие устройства (ОЗУ)
dc.coverage.spatialпараметризованные ячейки статической памяти
dc.coverage.spatialстатическое оперативное запоминающее устройство
dc.creatorБобров А. А.
dc.date2021
dc.date.accessioned2025-11-27T12:15:54Z-
dc.date.available2025-11-27T12:15:54Z-
dc.date.issued2021
dc.identifier.identifierRU\НТБ СГАУ\ВКР20210914144217
dc.identifier.citationБобров, А. А. Оптимизация блока тестирования параметризованной ячейки статической памяти : вып. квалификац. работа по направлению подгот. 11.03.04 "Электроника и наноэлектроника" (уровень бакалавриата) / А. А. Бобров ; рук. работы И. Н. Козлова ; нормоконтролер Д. А. Шишкина ; М-во науки и высш. образования Рос. Федерации, Самар. нац. исслед. ун-т им. С. П. Королева (Самар. ун-т), Ин-т информатики, ма. - Самара, 2021. - on-line
dc.identifier.urihttp://repo.ssau.ru/jspui/handle/123456789/55023-
dc.description.abstractВ работе рассматриваются методы верификации оперативных запоминающих устройств, а именно статический ОЗУ, свойственные им модели неисправностей, а также структуры встроенной системы самотестирования. Цель работы – оптимизация метода верификации статического оперативного запоминающего устройства по критерию время тестирования.Оптимизирован метод верификации в соответствии с целью работы. Синтезирована структура ВССТ. Были получены отсчёты по быстродействию, занимаемой площади и мощности.
dc.subjectвстроенная система самотестирования
dc.subjectстатическое оперативное запоминающее устройство
dc.subjectпараметризованные ячейки статической памяти
dc.subjectоперативные запоминающие устройства (ОЗУ)
dc.subject.rugasnti50.01
dc.subject.udc004.9
dc.titleОптимизация блока тестирования параметризованной ячейки статической памяти
dc.typeText
local.contributor.authorИнститут информатики
local.contributor.authorматематики и электроники
local.contributor.authorСамарский национальный исследовательский университет им. С. П. Королева (Самарский университет)
local.contributor.authorМинистерство науки и высшего образования Российской Федерации
local.identifier.oldurihttp://repo.ssau.ru/handle/Vypusknye-kvalifikacionnye-raboty/Optimizaciya-bloka-testirovaniya-parametrizovannoi-yacheiki-staticheskoi-pamyati-94273
Appears in Collections:Выпускные квалификационные работы



Items in Repository are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.