Samara University Repository
Welcome!
| Title: | Методика оценки погрешности электрических параметров комплексов пленочных пассивных элементов микросхем |
| Authors: | Мелешенко Д. Ю. Пиганов М. Н. |
| Keywords: | дефекты математические методы оценки электрические параметры погрешности пленочные пассивные элементы микросхем |
| Issue Date: | 2018 |
| Citation: | Мелешенко, Д. Ю. Методика оценки погрешности электрических параметров комплексов пленочных пассивных элементов микросхем : вып. квалификац. работа по спец. "Конструирование и технология электронных средств" / Д. Ю. Мелешенко ; рук. работы М. Н. Пиганов ; М-во образования и науки Рос. Федерации, Самар. нац. исслед. ун-т им. С. П. Королева (Самар. ун-т), Ин-т информатики, математики и электроники, Фак-т элек. - Самаpа, 2018. - on-line |
| URI: | http://repo.ssau.ru/jspui/handle/123456789/48777 |
| Appears in Collections: | Выпускные квалификационные работы |
Files in This Item:
| File | Size | Format | |
|---|---|---|---|
| Мелешенко_Дмитрий_Юрьевич_Методика_оценки_погрешности_электрических.pdf | 5.73 MB | Adobe PDF | View/Open Request a copy |
Items in Repository are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.