Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorМелешенко Д. Ю.
dc.contributor.authorПиганов М. Н.
dc.coverage.spatialматематические методы оценки
dc.coverage.spatialпленочные пассивные элементы микросхем
dc.coverage.spatialпогрешности
dc.coverage.spatialдефекты
dc.coverage.spatialэлектрические параметры
dc.creatorМелешенко Д. Ю.
dc.date2018
dc.date.accessioned2025-11-27T12:31:36Z-
dc.date.available2025-11-27T12:31:36Z-
dc.date.issued2018
dc.identifier.identifierRU\НТБ СГАУ\ВКР20180724134304
dc.identifier.citationМелешенко, Д. Ю. Методика оценки погрешности электрических параметров комплексов пленочных пассивных элементов микросхем : вып. квалификац. работа по спец. "Конструирование и технология электронных средств" / Д. Ю. Мелешенко ; рук. работы М. Н. Пиганов ; М-во образования и науки Рос. Федерации, Самар. нац. исслед. ун-т им. С. П. Королева (Самар. ун-т), Ин-т информатики, математики и электроники, Фак-т элек. - Самаpа, 2018. - on-line
dc.identifier.urihttp://repo.ssau.ru/jspui/handle/123456789/48777-
dc.subjectдефекты
dc.subjectматематические методы оценки
dc.subjectэлектрические параметры
dc.subjectпогрешности
dc.subjectпленочные пассивные элементы микросхем
dc.subject.rugasnti47.59.49
dc.subject.udc621.396
dc.titleМетодика оценки погрешности электрических параметров комплексов пленочных пассивных элементов микросхем
dc.typeText
local.contributor.authorМинистерство образования и науки Российской Федерации
local.contributor.authorматематики и электроники
local.contributor.authorИнститут информатики
local.contributor.authorСамарский национальный исследовательский университет им. С. П. Королева (Самарский университет)
local.identifier.oldurihttp://repo.ssau.ru/handle/Vypusknye-kvalifikacionnye-raboty/Metodika-ocenki-pogreshnosti-elektricheskih-parametrov-kompleksov-plenochnyh-passivnyh-elementov-mikroshem-vyp-kvalifikac-rabota-po-spec-Konstruirovanie-i-tehnologiya-elektronnyh-sredstv-74953
Appears in Collections:Выпускные квалификационные работы



Items in Repository are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.