Full metadata record
| DC Field | Value | Language |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | Мелешенко Д. Ю. | |
| dc.contributor.author | Пиганов М. Н. | |
| dc.coverage.spatial | математические методы оценки | |
| dc.coverage.spatial | пленочные пассивные элементы микросхем | |
| dc.coverage.spatial | погрешности | |
| dc.coverage.spatial | дефекты | |
| dc.coverage.spatial | электрические параметры | |
| dc.creator | Мелешенко Д. Ю. | |
| dc.date | 2018 | |
| dc.date.accessioned | 2025-11-27T12:31:36Z | - |
| dc.date.available | 2025-11-27T12:31:36Z | - |
| dc.date.issued | 2018 | |
| dc.identifier.identifier | RU\НТБ СГАУ\ВКР20180724134304 | |
| dc.identifier.citation | Мелешенко, Д. Ю. Методика оценки погрешности электрических параметров комплексов пленочных пассивных элементов микросхем : вып. квалификац. работа по спец. "Конструирование и технология электронных средств" / Д. Ю. Мелешенко ; рук. работы М. Н. Пиганов ; М-во образования и науки Рос. Федерации, Самар. нац. исслед. ун-т им. С. П. Королева (Самар. ун-т), Ин-т информатики, математики и электроники, Фак-т элек. - Самаpа, 2018. - on-line | |
| dc.identifier.uri | http://repo.ssau.ru/jspui/handle/123456789/48777 | - |
| dc.subject | дефекты | |
| dc.subject | математические методы оценки | |
| dc.subject | электрические параметры | |
| dc.subject | погрешности | |
| dc.subject | пленочные пассивные элементы микросхем | |
| dc.subject.rugasnti | 47.59.49 | |
| dc.subject.udc | 621.396 | |
| dc.title | Методика оценки погрешности электрических параметров комплексов пленочных пассивных элементов микросхем | |
| dc.type | Text | |
| local.contributor.author | Министерство образования и науки Российской Федерации | |
| local.contributor.author | математики и электроники | |
| local.contributor.author | Институт информатики | |
| local.contributor.author | Самарский национальный исследовательский университет им. С. П. Королева (Самарский университет) | |
| local.identifier.olduri | http://repo.ssau.ru/handle/Vypusknye-kvalifikacionnye-raboty/Metodika-ocenki-pogreshnosti-elektricheskih-parametrov-kompleksov-plenochnyh-passivnyh-elementov-mikroshem-vyp-kvalifikac-rabota-po-spec-Konstruirovanie-i-tehnologiya-elektronnyh-sredstv-74953 | |
| Appears in Collections: | Выпускные квалификационные работы | |
Files in This Item:
| File | Size | Format | |
|---|---|---|---|
| Мелешенко_Дмитрий_Юрьевич_Методика_оценки_погрешности_электрических.pdf | 5.73 MB | Adobe PDF | View/Open Request a copy |
Items in Repository are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.