| Title: | Оптимизация технологии электронной литографии для изготовления трехмерных структур в объеме полиметилметакрилата |
| Authors: | Васильева Э. М. Тукмаков К. Н. Лофицкий И. В. |
| Keywords: | позитивный резист доза экспонирования электронно-лучевая литография экспонирование ток пучка сканирующий электронный микроскоп |
| Issue Date: | 2017 |
| Citation: | Васильева, Э. М. Оптимизация технологии электронной литографии для изготовления трехмерных структур в объеме полиметилметакрилата : вып. квалификац. работа по спец. "Электроника и наноэлектроника" / Э. М. Васильева ; рук. работы К. Н. Тукмаков; рец. И. В. Лофицкий ; М-во образования и науки Рос. Федерации, Самар. нац. исслед. ун-т им. С. П. Королева (Самар. ун-т), Фак-т электроники и приборострое. - Самара, 2017. - on-line |
| Abstract: | В данной работе рассматриваются вопросы, связанные с отработкойпроцесса электронно-лучевой литографии и создания трехмерной тестовойструктуры.Цель работы – оптимизировать параметры процесса электронно-лучевойлитографии и на основании проведенной работы изготовить трехмернуютестовую структуру, подобрав оптимальное время проявления резиста и дозуэкспонирования.Исследованы основные процессы электронной литографии, ее аппаратноеобеспечение и проблемы, возникающие в процессе создания структур.Оптимизирован процесс электронной литографии для нанесения рисунка наслой резиста ПММА.Разработана тестовая трехмерная структура, изготовленная на подложкеиз кремния. Подобран позитивный резист для проведения электронно-лучевойлитографии. Определена оптимальная доза экспонирования при даннойтолщине резиста. |
| URI: | http://repo.ssau.ru/jspui/handle/123456789/47572 |
| Appears in Collections: | Выпускные квалификационные работы |
Files in This Item:
| File | Size | Format | |
|---|---|---|---|
| Васильева_Элина_Михайловна_Оптимизация_технологии_электронной_литографии.pdf | 1.22 MB | Adobe PDF | View/Open Request a copy |
Items in Repository are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.