Экспериментальное исследование оптоэлектронного метода измерения толщины одноосных кристаллов а-среза

Abstract

Объектом исследования является одноосный кристалл а-среза(кристалл конгруэнтного ниобата лития).Цель работы - разработка оптоэлектронного метода измерениятолщины двулучепреломляющих кристаллов а-среза.В процессе работы рассмотрены способы формирования и областиприменения пучков Бесселя, проведен анализ существующих методовизмерения толщины кристаллов, предложен оптический метод измерениятолщины двулучепреломляющих кристаллов а-среза, проведенаэкспериментальная апробация разработанного методаВ результате выпускной квалификационной работы разработан методбесконтактного измерения толщины одноосных кристаллов а-среза вдиапазоне от 0,1 до 100 мм при использовании аксиконов с различнымиугловыми апертурами.Результаты работы представляют интерес для предприятий,занимающихся производством и обработкой двулучепреломляющихкристаллов.