1. Репозиторий Самарского национального исследовательского университета имени академика С.П. Королёва
  2. 05. Выпускные квалификационные работы
  3. Выпускные квалификационные работы
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorАнаньев А. В.
dc.contributor.authorПаранин В. Д.
dc.contributor.authorБабаева О. Г.
dc.coverage.spatialлазерные пучки Бесселя
dc.coverage.spatialниобат лития
dc.coverage.spatialодноосные кристаллы
dc.coverage.spatialдвулучепреломление
dc.coverage.spatialдифракционный аксикон
dc.creatorАнаньев А. В.
dc.date2017
dc.date.accessioned2025-11-27T12:34:37Z-
dc.date.available2025-11-27T12:34:37Z-
dc.date.issued2017
dc.identifier.identifierRU\НТБ СГАУ\ВКР20171215102547
dc.identifier.citationАнаньев, А. В. Экспериментальное исследование оптоэлектронного метода измерения толщины одноосных кристаллов а-среза : вып. квалификац. работа по спец. "Электроника и наноэлектроника" / А. В. Ананьев ; рук. работы В. Д. Паранин; рец. О. Г. Бабаева ; М-во образования и науки Рос. Федерации, Самар. нац. исслед. ун-т им. С. П. Королева (Самар. ун-т), Ин-т информатики, математики и элект. - Самара, 2017. - on-line
dc.identifier.urihttp://repo.ssau.ru/jspui/handle/123456789/47533-
dc.description.abstractОбъектом исследования является одноосный кристалл а-среза(кристалл конгруэнтного ниобата лития).Цель работы - разработка оптоэлектронного метода измерениятолщины двулучепреломляющих кристаллов а-среза.В процессе работы рассмотрены способы формирования и областиприменения пучков Бесселя, проведен анализ существующих методовизмерения толщины кристаллов, предложен оптический метод измерениятолщины двулучепреломляющих кристаллов а-среза, проведенаэкспериментальная апробация разработанного методаВ результате выпускной квалификационной работы разработан методбесконтактного измерения толщины одноосных кристаллов а-среза вдиапазоне от 0,1 до 100 мм при использовании аксиконов с различнымиугловыми апертурами.Результаты работы представляют интерес для предприятий,занимающихся производством и обработкой двулучепреломляющихкристаллов.
dc.subjectдвулучепреломление
dc.subjectдифракционный аксикон
dc.subjectлазерные пучки Бесселя
dc.subjectниобат лития
dc.subjectодноосные кристаллы
dc.subject.rugasnti29.31
dc.subject.udc004.9
dc.titleЭкспериментальное исследование оптоэлектронного метода измерения толщины одноосных кристаллов а-среза
dc.typeText
local.contributor.authorМинистерство образования и науки Российской Федерации
local.contributor.authorСамарский национальный исследовательский университет им. С. П. Королева (Самарский университет)
local.contributor.authorИнститут информатики
local.contributor.authorматематики и электроники
local.identifier.oldurihttp://repo.ssau.ru/handle/VKR/Eksperimentalnoe-issledovanie-optoelektronnogo-metoda-izmereniya-tolshiny-odnoosnyh-kristallov-asreza-vyp-kvalifikac-rabota-po-spec-Elektronika-i-nanoelektronika-69211
Appears in Collections:Выпускные квалификационные работы

Files in This Item:
File SizeFormat 
Ананьев_Александр_Владимирович_Экспериментальное_исследование_оптоэлектронного_метода.pdf2.51 MBAdobe PDFView/Open    Request a copy
Show simple item record


Items in Repository are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.