Title: Моделирование композиционного и топографического контрастов изображений микрорельефа дифракционной решетки в растровом электронном микроскопе
Authors: Шабека А. С.
Куприянов А. В.
Карпеев С. В.
Keywords: композиционный контраст
метод Монте-Карло
топографический контраст
сечение рассеяния
пучок электронов
модели изображений
микрорельеф
детекторы
Issue Date: 2017
Citation: Шабека, А. С. Моделирование композиционного и топографического контрастов изображений микрорельефа дифракционной решетки в растровом электронном микроскопе : вып. квалификац. работа по спец. "Прикладная математика и информатика" / А. С. Шабека ; рук. работы А. В. Куприянов; рец. С. В. Карпеев ; М-во образования и науки Рос. Федерации, Самар. нац. исслед. ун-т им. С. П. Королева (Самар. ун-т), Ин-т информатики, математики и элек. - Самара, 2017. - on-line
Abstract: Объектом исследования является метод моделирования топографического и композиционного контрастов, получаемых в растровом электронном микроскопе, основанный на методе Монте-Карло. Цель работы – разработка и реализация алгоритма моделирования контраста. Раз
URI: http://repo.ssau.ru/jspui/handle/123456789/47035
Appears in Collections:Выпускные квалификационные работы



Items in Repository are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.