1. Репозиторий Самарского национального исследовательского университета имени академика С.П. Королёва
  2. 05. Выпускные квалификационные работы
  3. Выпускные квалификационные работы
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorШабека А. С.
dc.contributor.authorКуприянов А. В.
dc.contributor.authorКарпеев С. В.
dc.coverage.spatialсечение рассеяния
dc.coverage.spatialметод Монте-Карло
dc.coverage.spatialдетекторы
dc.coverage.spatialмикрорельеф
dc.coverage.spatialмодели изображений
dc.coverage.spatialпучок электронов
dc.coverage.spatialкомпозиционный контраст
dc.coverage.spatialтопографический контраст
dc.creatorШабека А. С.
dc.date2017
dc.date.accessioned2025-11-27T12:22:19Z-
dc.date.available2025-11-27T12:22:19Z-
dc.date.issued2017
dc.identifier.identifierRU\НТБ СГАУ\ВКР20170906151511
dc.identifier.citationШабека, А. С. Моделирование композиционного и топографического контрастов изображений микрорельефа дифракционной решетки в растровом электронном микроскопе : вып. квалификац. работа по спец. "Прикладная математика и информатика" / А. С. Шабека ; рук. работы А. В. Куприянов; рец. С. В. Карпеев ; М-во образования и науки Рос. Федерации, Самар. нац. исслед. ун-т им. С. П. Королева (Самар. ун-т), Ин-т информатики, математики и элек. - Самара, 2017. - on-line
dc.identifier.urihttp://repo.ssau.ru/jspui/handle/123456789/47035-
dc.description.abstractОбъектом исследования является метод моделирования топографического и композиционного контрастов, получаемых в растровом электронном микроскопе, основанный на методе Монте-Карло. Цель работы – разработка и реализация алгоритма моделирования контраста. Раз
dc.subjectкомпозиционный контраст
dc.subjectметод Монте-Карло
dc.subjectтопографический контраст
dc.subjectсечение рассеяния
dc.subjectпучок электронов
dc.subjectмодели изображений
dc.subjectмикрорельеф
dc.subjectдетекторы
dc.subject.rugasnti50.01
dc.subject.udc004.9
dc.titleМоделирование композиционного и топографического контрастов изображений микрорельефа дифракционной решетки в растровом электронном микроскопе
dc.typeText
local.contributor.authorИнститут информатики
local.contributor.authorМинистерство образования и науки Российской Федерации
local.contributor.authorСамарский национальный исследовательский университет им. С. П. Королева (Самарский университет)
local.contributor.authorматематики и электроники
local.identifier.oldurihttp://repo.ssau.ru/handle/VKR/Modelirovanie-kompozicionnogo-i-topograficheskogo-kontrastov-izobrazhenii-mikrorelefa-difrakcionnoi-reshetki-v-rastrovom-elektronnom-mikroskope-vyp-k-67535
Appears in Collections:Выпускные квалификационные работы

Files in This Item:
File SizeFormat 
Шабека_Антон_Сергеевич_Моделирование_композиционного_топографического.pdf1.88 MBAdobe PDFView/Open    Request a copy
Show simple item record


Items in Repository are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.