Title: Исследование структуры, состава и дефектов интегральных микросхем
Authors: Дубовая Е. С.
Мельников А. А.
Keywords: дефекты микросхем
интегральные микросхемы
микроэлектроника
персональные компьютеры
платы
электронная микроскопия
электронные растровые микроскопы
Issue Date: 2024
Citation: Дубовая, Е. С. Исследование структуры, состава и дефектов интегральных микросхем : вып. квалификац. работа по направлению подгот. 28.03.02 "Наноинженерия" (уровень бакалавриата), направленность (профиль) "Нанотехнологии и наноматериалы" / Е. С. Дубовая ; рук. работы А. А. Мельников ; нормоконтролер А. А. Мельников ; М-во науки и высш. образования Рос. Федерации, Самар. нац. исслед. ун-т им. С. П. Королева (Самар. ун-т), Естественнонауч. - Самара, 2024. - 1 файл (5,4 Мб). - Текст : электронный
Abstract: Объектом исследования являлась интегральная микросхема.Цель работы: изучить структуру, состав и дефекты интегральной микросхемы персонального компьютера с помощью электронного растрового микроскопа и энергодисперионного детектора. Выявить дефекты микросхемы, определить характер и причины образования дефектов. Вывод: В данной работе было проведено исследование структуры, состава и дефектов интегральной микросхемы персонального компьютера с помощью электронного микроскопа и энергодисперсионного детектора. Были выполнены замеры конструктивных элементов микросхемы. Выяснено, что основными материалами в данной микросхеме являются медь марки М1, припой оловянно-свинцовый ПОС60, соединительные проводники, изготовленные из золота. Подложка состоит из кремния.В результате исследования были обнаружены такие дефекты, как коррозия проводников, коррозия припоя, разрушение и нарушение контакта проводников, скол и трещины на корпусе микросхем, неравномерный слой припоя на поверхности проводника в месте контакта. Исследова
URI: http://repo.ssau.ru/jspui/handle/123456789/46045
Appears in Collections:Выпускные квалификационные работы



Items in Repository are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.