1. Репозиторий Самарского национального исследовательского университета имени академика С.П. Королёва
  2. 05. Выпускные квалификационные работы
  3. Выпускные квалификационные работы
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorДубовая Е. С.
dc.contributor.authorМельников А. А.
dc.coverage.spatialдефекты микросхем
dc.coverage.spatialинтегральные микросхемы
dc.coverage.spatialмикроэлектроника
dc.coverage.spatialперсональные компьютеры
dc.coverage.spatialплаты
dc.coverage.spatialэлектронная микроскопия
dc.coverage.spatialэлектронные растровые микроскопы
dc.creatorДубовая Е. С.
dc.date2024
dc.date.accessioned2025-11-27T12:15:21Z-
dc.date.available2025-11-27T12:15:21Z-
dc.date.issued2024
dc.identifier.identifierRU\НТБ СГАУ\ВКР20240628145914
dc.identifier.citationДубовая, Е. С. Исследование структуры, состава и дефектов интегральных микросхем : вып. квалификац. работа по направлению подгот. 28.03.02 "Наноинженерия" (уровень бакалавриата), направленность (профиль) "Нанотехнологии и наноматериалы" / Е. С. Дубовая ; рук. работы А. А. Мельников ; нормоконтролер А. А. Мельников ; М-во науки и высш. образования Рос. Федерации, Самар. нац. исслед. ун-т им. С. П. Королева (Самар. ун-т), Естественнонауч. - Самара, 2024. - 1 файл (5,4 Мб). - Текст : электронный
dc.identifier.urihttp://repo.ssau.ru/jspui/handle/123456789/46045-
dc.description.abstractОбъектом исследования являлась интегральная микросхема.Цель работы: изучить структуру, состав и дефекты интегральной микросхемы персонального компьютера с помощью электронного растрового микроскопа и энергодисперионного детектора. Выявить дефекты микросхемы, определить характер и причины образования дефектов. Вывод: В данной работе было проведено исследование структуры, состава и дефектов интегральной микросхемы персонального компьютера с помощью электронного микроскопа и энергодисперсионного детектора. Были выполнены замеры конструктивных элементов микросхемы. Выяснено, что основными материалами в данной микросхеме являются медь марки М1, припой оловянно-свинцовый ПОС60, соединительные проводники, изготовленные из золота. Подложка состоит из кремния.В результате исследования были обнаружены такие дефекты, как коррозия проводников, коррозия припоя, разрушение и нарушение контакта проводников, скол и трещины на корпусе микросхем, неравномерный слой припоя на поверхности проводника в месте контакта. Исследова
dc.subjectдефекты микросхем
dc.subjectинтегральные микросхемы
dc.subjectмикроэлектроника
dc.subjectперсональные компьютеры
dc.subjectплаты
dc.subjectэлектронная микроскопия
dc.subjectэлектронные растровые микроскопы
dc.subject.rugasnti47.33.31
dc.subject.udc621.382.049.77
dc.titleИсследование структуры, состава и дефектов интегральных микросхем
dc.typeText
local.contributor.authorМинистерство науки и высшего образования Российской Федерации
local.contributor.authorСамарский национальный исследовательский университет им. С. П. Королева (Самарский университет)
local.contributor.authorЕстественнонаучный институт
local.identifier.oldurihttp://repo.ssau.ru/handle/Vypusknye-kvalifikacionnye-raboty/Issledovanie-struktury-sostava-i-defektov-integralnyh-mikroshem-110052
local.identifier.oldurihttp://repo.ssau.ru/handle/Vypusknye-kvalifikacionnye-raboty/Issledovanie-struktury-sostava-i-defektov-integralnyh-mikroshem-110052
Appears in Collections:Выпускные квалификационные работы

Files in This Item:
File SizeFormat 
Дубовая_Елизавета_Сергеевна_Исследование_структуры,_состава.pdf5.54 MBAdobe PDFView/Open    Request a copy
Show simple item record


Items in Repository are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.