Title: Диагностические системы для контроля параметров излучения, формируемого дифракционными оптическими элементами различных апертур
Authors: Юров Н. О.
Меженин А. В.
Keywords: диагностические системы
углекислотные лазеры
схема Кеплера
схема Галилея
распределение интенсивности
дифракционные оптические элементы (ДОЭ)
инфракрасное излучение
Issue Date: 2020
Citation: Юров, Н. О. Диагностические системы для контроля параметров излучения, формируемого дифракционными оптическими элементами различных апертур : вып. квалификац. работа по направлению подгот. 11.03.04 "Электроника и наноэлектроника" (уровень бакалавриата) / Н. О. Юров ; рук. работы А. В. Меженин ; Минобрнауки России, Самарский национальный исследовательский университет им. С. П. Королева (Самарский ун-т), Ин-т информатики, математики и электроники, Фак-т. - Самара, 2020. - on-line
Abstract: Объектом исследования являются оптические системы, предназначенныедля диагностики элементов дифракционной оптики, работающих в дальнеминфракрасном (ИК) диапазоне.Цель работы – определение возможностей диагностических системс точки зрения исследования параметров излучения, формируемогодифракционными оптическими элементами (ДОЭ) различной апертуры.Проведен расчет оптических систем, предлагаемых для контроляпараметров ДОЭ, на основе положений дифракционной теории.Определены пределы регулирования размера освещающего выходногопучка в схемах с использованием и без использования коллиматоров.Выполнены эксперименты по исследованию параметров излучения,сформированного ДОЭ различных апертур.Значимость работы заключается в ее прикладной направленности:предлагаемые оптические системы могут использоваться для комплексногоисследования параметров дифракционных элементов дальнего ИК-диапазонас апертурой от 2 до 40 мм, за исключением области от 10 до 20 мм.
URI: http://repo.ssau.ru/jspui/handle/123456789/44382
Appears in Collections:Выпускные квалификационные работы



Items in Repository are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.