Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorЮров Н. О.
dc.contributor.authorМеженин А. В.
dc.coverage.spatialраспределение интенсивности
dc.coverage.spatialуглекислотные лазеры
dc.coverage.spatialинфракрасное излучение
dc.coverage.spatialсхема Кеплера
dc.coverage.spatialсхема Галилея
dc.coverage.spatialдиагностические системы
dc.coverage.spatialдифракционные оптические элементы (ДОЭ)
dc.creatorЮров Н. О.
dc.date2020
dc.date.accessioned2025-11-26T13:54:37Z-
dc.date.available2025-11-26T13:54:37Z-
dc.date.issued2020
dc.identifier.identifierRU\НТБ СГАУ\ВКР20200625142618
dc.identifier.citationЮров, Н. О. Диагностические системы для контроля параметров излучения, формируемого дифракционными оптическими элементами различных апертур : вып. квалификац. работа по направлению подгот. 11.03.04 "Электроника и наноэлектроника" (уровень бакалавриата) / Н. О. Юров ; рук. работы А. В. Меженин ; Минобрнауки России, Самарский национальный исследовательский университет им. С. П. Королева (Самарский ун-т), Ин-т информатики, математики и электроники, Фак-т. - Самара, 2020. - on-line
dc.identifier.urihttp://repo.ssau.ru/jspui/handle/123456789/44382-
dc.description.abstractОбъектом исследования являются оптические системы, предназначенныедля диагностики элементов дифракционной оптики, работающих в дальнеминфракрасном (ИК) диапазоне.Цель работы – определение возможностей диагностических системс точки зрения исследования параметров излучения, формируемогодифракционными оптическими элементами (ДОЭ) различной апертуры.Проведен расчет оптических систем, предлагаемых для контроляпараметров ДОЭ, на основе положений дифракционной теории.Определены пределы регулирования размера освещающего выходногопучка в схемах с использованием и без использования коллиматоров.Выполнены эксперименты по исследованию параметров излучения,сформированного ДОЭ различных апертур.Значимость работы заключается в ее прикладной направленности:предлагаемые оптические системы могут использоваться для комплексногоисследования параметров дифракционных элементов дальнего ИК-диапазонас апертурой от 2 до 40 мм, за исключением области от 10 до 20 мм.
dc.subjectдиагностические системы
dc.subjectуглекислотные лазеры
dc.subjectсхема Кеплера
dc.subjectсхема Галилея
dc.subjectраспределение интенсивности
dc.subjectдифракционные оптические элементы (ДОЭ)
dc.subjectинфракрасное излучение
dc.subject.rugasnti29.31.29
dc.subject.udc681.7.063
dc.titleДиагностические системы для контроля параметров излучения, формируемого дифракционными оптическими элементами различных апертур
dc.typeText
local.contributor.authorматематики и электроники
local.contributor.authorИнститут информатики
local.contributor.authorМинистерство образования и науки России
local.contributor.authorСамарский национальный исследовательский университет им. С. П. Королева (Самарский университет)
local.identifier.oldurihttp://repo.ssau.ru/handle/Vypusknye-kvalifikacionnye-raboty/Diagnosticheskie-sistemy-dlya-kontrolya-parametrov-izlucheniya-formiruemogo-difrakcionnymi-opticheskimi-elementami-razlichnyh-apertur-vyp-kvalifikac-rabota--85054
Appears in Collections:Выпускные квалификационные работы



Items in Repository are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.