Title: Анализ и исследование точности технологического процесса изготовления полупроводниковых приборов
Authors: Капитонов В. А.
Keywords: технологические процессы
полупроводниковые приборы
параметры качества
лабораторные работы
биполярные транзисторы
учебные издания
точность
статистические методы
стабильность
Issue Date: 1991
Citation: Анализ и исследование точности технологического процесса изготовления полупроводниковых приборов : метод. указания к лаб. работе. - Текст : электронный / Гос. ком. РСФСР по делам науки и высш. шк., Самар. авиац. ин-т им. С. П. Королева ; [сост. Капитонов Валерий Алексеевич]. - Самара, 1991. - 1 файл (478 Кб)
Abstract: Рассмотрены основные характеристики статистической совокупности. Приведены основные расчетные формулы для определения параметров качества технологического процесса изготовления полупроводниковых приборов. Оценивается точность и стабильность технологического процесса. Предназначены для студентов специальности 23.03. Составлены на кафедре «Микроэлектроника и технология радиоэлектронной аппаратуры».
Используемые программы: Adobe Acrobat.
Труды сотрудников САИ (электрон. версия).
URI: http://repo.ssau.ru/jspui/handle/123456789/40300
Appears in Collections:Методические издания

Files in This Item:
File SizeFormat 
Капитонов В.А. Анализ и исследование 1991.pdf478.83 kBAdobe PDFView/Open


Items in Repository are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.