Full metadata record
| DC Field | Value | Language |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | Капитонов В. А. | |
| dc.coverage.spatial | лабораторные работы | |
| dc.coverage.spatial | биполярные транзисторы | |
| dc.coverage.spatial | точность | |
| dc.coverage.spatial | технологические процессы | |
| dc.coverage.spatial | стабильность | |
| dc.coverage.spatial | статистические методы | |
| dc.coverage.spatial | полупроводниковые приборы | |
| dc.coverage.spatial | параметры качества | |
| dc.coverage.spatial | учебные издания | |
| dc.date | 1991 | |
| dc.date.accessioned | 2025-11-26T12:16:42Z | - |
| dc.date.available | 2025-11-26T12:16:42Z | - |
| dc.date.issued | 1991 | |
| dc.identifier.identifier | RU\НТБ СГАУ\443391 | |
| dc.identifier.citation | Анализ и исследование точности технологического процесса изготовления полупроводниковых приборов : метод. указания к лаб. работе. - Текст : электронный / Гос. ком. РСФСР по делам науки и высш. шк., Самар. авиац. ин-т им. С. П. Королева ; [сост. Капитонов Валерий Алексеевич]. - Самара, 1991. - 1 файл (478 Кб) | |
| dc.identifier.uri | http://repo.ssau.ru/jspui/handle/123456789/40300 | - |
| dc.description.abstract | Рассмотрены основные характеристики статистической совокупности. Приведены основные расчетные формулы для определения параметров качества технологического процесса изготовления полупроводниковых приборов. Оценивается точность и стабильность технологического процесса. Предназначены для студентов специальности 23.03. Составлены на кафедре «Микроэлектроника и технология радиоэлектронной аппаратуры». | |
| dc.description.abstract | Используемые программы: Adobe Acrobat. | |
| dc.description.abstract | Труды сотрудников САИ (электрон. версия). | |
| dc.language | rus | |
| dc.relation.isformatof | Анализ и исследование точности технологического процесса изготовления полупроводниковых приборов : метод. указания к лаб. работе. - Текст : непосредс | |
| dc.subject | технологические процессы | |
| dc.subject | полупроводниковые приборы | |
| dc.subject | параметры качества | |
| dc.subject | лабораторные работы | |
| dc.subject | биполярные транзисторы | |
| dc.subject | учебные издания | |
| dc.subject | точность | |
| dc.subject | статистические методы | |
| dc.subject | стабильность | |
| dc.subject.rugasnti | 47.13.11 | |
| dc.subject.udc | 621.382.002(075) | |
| dc.title | Анализ и исследование точности технологического процесса изготовления полупроводниковых приборов | |
| dc.type | Text | |
| local.contributor.author | Самарский авиационный институт им. С. П. Королева | |
| local.contributor.author | Государственный комитет РСФСР по делам науки и высшей школы | |
| local.identifier.olduri | http://repo.ssau.ru/handle/Metodicheskie-izdaniya/Analiz-i-issledovanie-tochnosti-tehnologicheskogo-processa-izgotovleniya-poluprovodnikovyh-priborov-metod-ukazaniya-k-lab-rabote-Tekst-elektronnyi-85689 | |
| Appears in Collections: | Методические издания | |
Files in This Item:
| File | Size | Format | |
|---|---|---|---|
| Капитонов В.А. Анализ и исследование 1991.pdf | 478.83 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in Repository are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.