Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorКапитонов В. А.
dc.coverage.spatialлабораторные работы
dc.coverage.spatialбиполярные транзисторы
dc.coverage.spatialточность
dc.coverage.spatialтехнологические процессы
dc.coverage.spatialстабильность
dc.coverage.spatialстатистические методы
dc.coverage.spatialполупроводниковые приборы
dc.coverage.spatialпараметры качества
dc.coverage.spatialучебные издания
dc.date1991
dc.date.accessioned2025-11-26T12:16:42Z-
dc.date.available2025-11-26T12:16:42Z-
dc.date.issued1991
dc.identifier.identifierRU\НТБ СГАУ\443391
dc.identifier.citationАнализ и исследование точности технологического процесса изготовления полупроводниковых приборов : метод. указания к лаб. работе. - Текст : электронный / Гос. ком. РСФСР по делам науки и высш. шк., Самар. авиац. ин-т им. С. П. Королева ; [сост. Капитонов Валерий Алексеевич]. - Самара, 1991. - 1 файл (478 Кб)
dc.identifier.urihttp://repo.ssau.ru/jspui/handle/123456789/40300-
dc.description.abstractРассмотрены основные характеристики статистической совокупности. Приведены основные расчетные формулы для определения параметров качества технологического процесса изготовления полупроводниковых приборов. Оценивается точность и стабильность технологического процесса. Предназначены для студентов специальности 23.03. Составлены на кафедре «Микроэлектроника и технология радиоэлектронной аппаратуры».
dc.description.abstractИспользуемые программы: Adobe Acrobat.
dc.description.abstractТруды сотрудников САИ (электрон. версия).
dc.languagerus
dc.relation.isformatofАнализ и исследование точности технологического процесса изготовления полупроводниковых приборов : метод. указания к лаб. работе. - Текст : непосредс
dc.subjectтехнологические процессы
dc.subjectполупроводниковые приборы
dc.subjectпараметры качества
dc.subjectлабораторные работы
dc.subjectбиполярные транзисторы
dc.subjectучебные издания
dc.subjectточность
dc.subjectстатистические методы
dc.subjectстабильность
dc.subject.rugasnti47.13.11
dc.subject.udc621.382.002(075)
dc.titleАнализ и исследование точности технологического процесса изготовления полупроводниковых приборов
dc.typeText
local.contributor.authorСамарский авиационный институт им. С. П. Королева
local.contributor.authorГосударственный комитет РСФСР по делам науки и высшей школы
local.identifier.oldurihttp://repo.ssau.ru/handle/Metodicheskie-izdaniya/Analiz-i-issledovanie-tochnosti-tehnologicheskogo-processa-izgotovleniya-poluprovodnikovyh-priborov-metod-ukazaniya-k-lab-rabote-Tekst-elektronnyi-85689
Appears in Collections:Методические издания

Files in This Item:
File SizeFormat 
Капитонов В.А. Анализ и исследование 1991.pdf478.83 kBAdobe PDFView/Open


Items in Repository are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.