Исследование электрофизических свойств пленочных структур

Буренин П. В.; Волков А. В.

Title:	Исследование электрофизических свойств пленочных структур
Authors:	Буренин П. В. Волков А. В.
Keywords:	тонкопленочные конденсаторы (ТПК) электронные процессы в тонких пленках методические издания диэлектрические пленки рост пленок резистивные пленки образование пленок
Issue Date:	1983
Citation:	Исследование электрофизических свойств пленочных структур : метод. указания к лаб. работе № 3. - Текст : электронный / М-во высш. и сред. спец. образования РСФСР, Куйбышев. авиац. ин-т им. С. П. Королева ; [сост. П. В. Буренин, А. В. Волков]. - Куйбышев, 1983. - 1 файл (1,82 Мб)
Abstract:	Гриф. Изучаются механизмы образования и роста пленок, проводится их классификация. Анализируются также электронные процессы в тонких пленках: механизмы переноса зарядов в структуре металл-диэлектрик-металл; зависимости удельного сопротивления и температурного коэффициента сопротивления от толщины резистивных пленок; типы поляризации и диэлектрические потери в диэлектрических пленках. Исследуется электрофизические параметры резистивных пленок, ВАХ МДМ структур и диэлектрические потери в тонкопленочных конденсаторах в зависимости от температуры и толщины пленок. Рекомендуется для студентов специальности 0701. Используемые программы: Adobe Acrobat. Труды сотрудников КуАИ (электрон. версия).
URI:	http://repo.ssau.ru/jspui/handle/123456789/39771
Appears in Collections:	Методические издания

Files in This Item:

File	Size	Format
Буренин П.В. Исследование электрофизических свойств 1983.pdf	1.87 MB	Adobe PDF	View/Open

Show full item record

Samara University Repository

Welcome!