Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorБуренин П. В.
dc.contributor.authorВолков А. В.
dc.coverage.spatialдиэлектрические пленки
dc.coverage.spatialметодические издания
dc.coverage.spatialобразование пленок
dc.coverage.spatialрезистивные пленки
dc.coverage.spatialрост пленок
dc.coverage.spatialтонкопленочные конденсаторы (ТПК)
dc.coverage.spatialэлектронные процессы в тонких пленках
dc.date1983
dc.date.accessioned2025-11-26T12:16:04Z-
dc.date.available2025-11-26T12:16:04Z-
dc.date.issued1983
dc.identifier.identifierRU\НТБ СГАУ\478038
dc.identifier.citationИсследование электрофизических свойств пленочных структур : метод. указания к лаб. работе № 3. - Текст : электронный / М-во высш. и сред. спец. образования РСФСР, Куйбышев. авиац. ин-т им. С. П. Королева ; [сост. П. В. Буренин, А. В. Волков]. - Куйбышев, 1983. - 1 файл (1,82 Мб)
dc.identifier.urihttp://repo.ssau.ru/jspui/handle/123456789/39771-
dc.description.abstractГриф.
dc.description.abstractИзучаются механизмы образования и роста пленок, проводится их классификация. Анализируются также электронные процессы в тонких пленках: механизмы переноса зарядов в структуре металл-диэлектрик-металл; зависимости удельного сопротивления и температурного коэффициента сопротивления от толщины резистивных пленок; типы поляризации и диэлектрические потери в диэлектрических пленках. Исследуется электрофизические параметры резистивных пленок, ВАХ МДМ структур и диэлектрические потери в тонкопленочных конденсаторах в зависимости от температуры и толщины пленок. Рекомендуется для студентов специальности 0701.
dc.description.abstractИспользуемые программы: Adobe Acrobat.
dc.description.abstractТруды сотрудников КуАИ (электрон. версия).
dc.languagerus
dc.relation.isformatofИсследование электрофизических свойств пленочных структур : метод. указания к лаб. работе № 3. - Текст : непосредственный
dc.subjectдиэлектрические пленки
dc.subjectметодические издания
dc.subjectобразование пленок
dc.subjectрезистивные пленки
dc.subjectрост пленок
dc.subjectтонкопленочные конденсаторы (ТПК)
dc.subjectэлектронные процессы в тонких пленках
dc.subject.rugasnti47.01
dc.subject.udc621.38(075)
dc.subject.udc621.382 (075)
dc.titleИсследование электрофизических свойств пленочных структур
dc.typeText
local.contributor.authorМинистерство высшего и среднего специального образования РСФСР
local.contributor.authorКуйбышевский авиационный институт им. С. П. Королева
local.identifier.oldurihttp://repo.ssau.ru/handle/Metodicheskie-izdaniya/Issledovanie-elektrofizicheskih-svoistv-plenochnyh-struktur-96381
local.identifier.oldurihttp://repo.ssau.ru/handle/Metodicheskie-izdaniya/Issledovanie-elektrofizicheskih-svoistv-plenochnyh-struktur-96381
Appears in Collections:Методические издания



Items in Repository are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.