Samara University Repository
Welcome!
| Title: | Погрешности хранения аналоговых запоминающих устройств |
| Authors: | Логвинов А. В. |
| Keywords: | аналоговые запоминающие устройства (АЗУ) абсорбция диэлектрика конденсатора емкостные АЗУ источники погрешностей МОП-транзисторы утечки транзисторы переходные тепловые процессы погрешность хранения полупроводниковые приборы |
| Issue Date: | 1979 |
| Citation: | Логвинов, А. В. Погрешности хранения аналоговых запоминающих устройств. - Текст : электронный / А. В. Логвинов // Автоматизация экспериментальных исследований : межвуз. сб. - Текст : электронный / М-во высш. и сред. спец. образования РСФСР, Куйбышев. авиац. ин-т им. С. П. Королева ; под ред. В. А. Виттиха. - 1979. - Вып. 10. - С. 149-153 |
| Abstract: | Рассмотрены основные факторы, влияющие на точность хранения напряжения на накопительном конденсаторе аналогового запоминающего устройства. Сюда входят: утечки полупроводниковых приборов, эффект абсорбции в диэлектрике конденсатора и в диэлектрике платы, переходные тепловые процессы в транзисторе повторителя напряжения. Приведены кривые, характеризующие величину 4, поведение этих погрешностей в диапазоне времени хранения 10 мкс. - 100 мс. |
| URI: | http://repo.ssau.ru/jspui/handle/123456789/24072 |
| Appears in Collections: | Автоматизация экспериментальных исследований |
Files in This Item:
| File | Size | Format | |
|---|---|---|---|
| Стр.-149-153.pdf | 173.34 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in Repository are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.