1. Репозиторий Самарского национального исследовательского университета имени академика С.П. Королёва
  2. 02. Монографии и сборники научных трудов
  3. Автоматизация экспериментальных исследований
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorЛогвинов А. В.
dc.coverage.spatialаналоговые запоминающие устройства (АЗУ)
dc.coverage.spatialабсорбция
dc.coverage.spatialдиэлектрика конденсатора
dc.coverage.spatialемкостные АЗУ
dc.coverage.spatialисточники погрешностей
dc.coverage.spatialМОП-транзисторы
dc.coverage.spatialутечки
dc.coverage.spatialтранзисторы
dc.coverage.spatialпереходные тепловые процессы
dc.coverage.spatialпогрешность хранения
dc.coverage.spatialполупроводниковые приборы
dc.creatorЛогвинов А. В.
dc.date1979
dc.date.accessioned2025-08-27T14:15:04Z-
dc.date.available2025-08-27T14:15:04Z-
dc.date.issued1979
dc.identifier.identifierRU\НТБ СГАУ\474300
dc.identifier.citationЛогвинов, А. В. Погрешности хранения аналоговых запоминающих устройств. - Текст : электронный / А. В. Логвинов // Автоматизация экспериментальных исследований : межвуз. сб. - Текст : электронный / М-во высш. и сред. спец. образования РСФСР, Куйбышев. авиац. ин-т им. С. П. Королева ; под ред. В. А. Виттиха. - 1979. - Вып. 10. - С. 149-153
dc.identifier.urihttp://repo.ssau.ru/jspui/handle/123456789/24072-
dc.description.abstractРассмотрены основные факторы, влияющие на точность хранения напряжения на накопительном конденсаторе аналогового запоминающего устройства. Сюда входят: утечки полупроводниковых приборов, эффект абсорбции в диэлектрике конденсатора и в диэлектрике платы, переходные тепловые процессы в транзисторе повторителя напряжения. Приведены кривые, характеризующие величину 4, поведение этих погрешностей в диапазоне времени хранения 10 мкс. - 100 мс.
dc.relation.ispartofАвтоматизация экспериментальных исследований : межвуз. сб. - Текст : электронный
dc.sourceАвтоматизация экспериментальных исследований. - Вып. 10
dc.subjectаналоговые запоминающие устройства (АЗУ)
dc.subjectабсорбция
dc.subjectдиэлектрика конденсатора
dc.subjectемкостные АЗУ
dc.subjectисточники погрешностей
dc.subjectМОП-транзисторы
dc.subjectутечки
dc.subjectтранзисторы
dc.subjectпереходные тепловые процессы
dc.subjectпогрешность хранения
dc.subjectполупроводниковые приборы
dc.titleПогрешности хранения аналоговых запоминающих устройств
dc.typeText
dc.citation.epage153
dc.citation.spage149
local.contributor.authorЛогвинов А. В.
local.identifier.oldurihttp://repo.ssau.ru/handle/Avtomatizaciya-eksperimentalnyh-issledovanii/Pogreshnosti-hraneniya-analogovyh-zapominaushih-ustroistv-95399
local.identifier.oldurihttp://repo.ssau.ru/handle/Avtomatizaciya-eksperimentalnyh-issledovanii/Pogreshnosti-hraneniya-analogovyh-zapominaushih-ustroistv-95399
Appears in Collections:Автоматизация экспериментальных исследований

Files in This Item:
File SizeFormat 
Стр.-149-153.pdf173.34 kBAdobe PDFView/Open
Show simple item record


Items in Repository are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.