Title: К вопросу о побочных электромагнитных излучениях современных интерфейсов средств вычислительной техники
Authors: Рыженко, С.В.
Issue Date: 2017
Publisher: Издательство Инсома-Пресс
Citation: Рыженко, С. В. К вопросу о побочных электромагнитных излучениях современных интерфейсов средств вычислительной техники / С. В. Рыженко // Труды Межвузовской научно-практической конференции «Актуальные проблемы обеспечения информационной безопасности». – Самара: Изд-во Инсома-Пресс, 2017. – С. 170-176.
Abstract: В статье рассмотрена структура современных интерфейсов средств вычислительной техники и анализ действующей нормативно-методической базы для создания тестовых режимов её работы при измерении побочных электромагнитных излучений во время проведения специальных исследований объектов информатизации. Указаны основные направления совершенствования правил и подходов к созданию тестовых режимов работы средств вычислительной техники.
URI: http://repo.ssau.ru/jspui/handle/123456789/20303
Appears in Collections:Актуальные проблемы обеспечения информационной безопасности

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
170-176.pdfОсновная статья302.88 kBAdobe PDFView/Open


Items in Repository are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.