| Title: | К вопросу о побочных электромагнитных излучениях современных интерфейсов средств вычислительной техники |
| Authors: | Рыженко, С.В. |
| Issue Date: | 2017 |
| Publisher: | Издательство Инсома-Пресс |
| Citation: | Рыженко, С. В. К вопросу о побочных электромагнитных излучениях современных интерфейсов средств вычислительной техники / С. В. Рыженко // Труды Межвузовской научно-практической конференции «Актуальные проблемы обеспечения информационной безопасности». – Самара: Изд-во Инсома-Пресс, 2017. – С. 170-176. |
| Abstract: | В статье рассмотрена структура современных интерфейсов средств вычислительной техники и анализ действующей нормативно-методической базы для создания тестовых режимов её работы при измерении побочных электромагнитных излучений во время проведения специальных исследований объектов информатизации. Указаны основные направления совершенствования правил и подходов к созданию тестовых режимов работы средств вычислительной техники. |
| URI: | http://repo.ssau.ru/jspui/handle/123456789/20303 |
| Appears in Collections: | Актуальные проблемы обеспечения информационной безопасности |
Files in This Item:
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| 170-176.pdf | Основная статья | 302.88 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in Repository are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.