Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorРыженко, С.В.
dc.date2017
dc.date.accessioned2025-08-27T05:13:42Z-
dc.date.available2025-08-27T05:13:42Z-
dc.date.issued2017
dc.identifier.identifierDspace\SGAU\20170725\64904
dc.identifier.citationРыженко, С. В. К вопросу о побочных электромагнитных излучениях современных интерфейсов средств вычислительной техники / С. В. Рыженко // Труды Межвузовской научно-практической конференции «Актуальные проблемы обеспечения информационной безопасности». – Самара: Изд-во Инсома-Пресс, 2017. – С. 170-176.
dc.identifier.urihttp://repo.ssau.ru/jspui/handle/123456789/20303-
dc.description.abstractВ статье рассмотрена структура современных интерфейсов средств вычислительной техники и анализ действующей нормативно-методической базы для создания тестовых режимов её работы при измерении побочных электромагнитных излучений во время проведения специальных исследований объектов информатизации. Указаны основные направления совершенствования правил и подходов к созданию тестовых режимов работы средств вычислительной техники.
dc.languagerus
dc.publisherИздательство Инсома-Пресс
dc.titleК вопросу о побочных электромагнитных излучениях современных интерфейсов средств вычислительной техники
dc.typeArticle
dc.identifier.udc621.396
local.identifier.oldurihttp://repo.ssau.ru/handle/Informacionnaya-bezopasnost/K-voprosu-o-pobochnyh-elektromagnitnyh-izlucheniyah-sovremennyh-interfeisov-sredstv-vychislitelnoi-tehniki-64904
local.identifier.oldurihttp://repo.ssau.ru/handle/Informacionnaya-bezopasnost/K-voprosu-o-pobochnyh-elektromagnitnyh-izlucheniyah-sovremennyh-interfeisov-sredstv-vychislitelnoi-tehniki-64904
Appears in Collections:Актуальные проблемы обеспечения информационной безопасности

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
170-176.pdfОсновная статья302.88 kBAdobe PDFView/Open


Items in Repository are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.