| Title: | Методика диагностического контроля качества микросхем 142ЕН5 |
| Authors: | Плотников, В.Б. Пиганов, М.Н. Жувак, А.И. |
| Issue Date: | 2000 |
| Publisher: | СГАУ |
| Citation: | Плотников, В. Б. Методика диагностического контроля качества микросхем 142ЕН5 / В. Б. Плотников, М. Н. Пиганов, А. И. Жувак // Актуальные проблемы радиоэлектроники / Самар. гос. аэрокосм. ун-т; [под общ. ред. Ю. Ф. Широкова]. – Самара : СГАУ, 2000. – Вып. 3. – С. 52-57. |
| URI: | http://repo.ssau.ru/jspui/handle/123456789/16316 |
| Appears in Collections: | Вестник СГАУ. Актуальные проблемы радиоэлектроники |
Files in This Item:
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| apr_2000_11.pdf | Основная статья | 2.64 MB | Adobe PDF | View/Open |
Items in Repository are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.