Title: Методика диагностического контроля качества микросхем 142ЕН5
Authors: Плотников, В.Б.
Пиганов, М.Н.
Жувак, А.И.
Issue Date: 2000
Publisher: СГАУ
Citation: Плотников, В. Б. Методика диагностического контроля качества микросхем 142ЕН5 / В. Б. Плотников, М. Н. Пиганов, А. И. Жувак // Актуальные проблемы радиоэлектроники / Самар. гос. аэрокосм. ун-т; [под общ. ред. Ю. Ф. Широкова]. – Самара : СГАУ, 2000. – Вып. 3. – С. 52-57.
URI: http://repo.ssau.ru/jspui/handle/123456789/16316
Appears in Collections:Вестник СГАУ. Актуальные проблемы радиоэлектроники

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
apr_2000_11.pdfОсновная статья2.64 MBAdobe PDFView/Open


Items in Repository are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.