Методика диагностического контроля качества микросхем 142ЕН5

Full metadata record

DC Field	Value	Language
dc.contributor.author	Плотников, В.Б.
dc.contributor.author	Пиганов, М.Н.
dc.contributor.author	Жувак, А.И.
dc.date	2000
dc.date.accessioned	2025-08-27T04:48:29Z	-
dc.date.available	2025-08-27T04:48:29Z	-
dc.date.issued	2000
dc.identifier.identifier	Dspace\SGAU\20170912\65256
dc.identifier.citation	Плотников, В. Б. Методика диагностического контроля качества микросхем 142ЕН5 / В. Б. Плотников, М. Н. Пиганов, А. И. Жувак // Актуальные проблемы радиоэлектроники / Самар. гос. аэрокосм. ун-т; [под общ. ред. Ю. Ф. Широкова]. – Самара : СГАУ, 2000. – Вып. 3. – С. 52-57.
dc.identifier.uri	http://repo.ssau.ru/jspui/handle/123456789/16316	-
dc.language	rus
dc.publisher	СГАУ
dc.title	Методика диагностического контроля качества микросхем 142ЕН5
dc.type	Article
local.identifier.olduri	http://repo.ssau.ru/handle/Vestnik-SGAU-Aktualnye-problemy-radioelektroniki/Metodika-diagnosticheskogo-kontrolya-kachestva-mikroshem-142EN5-65256
local.identifier.olduri	http://repo.ssau.ru/handle/Vestnik-SGAU-Aktualnye-problemy-radioelektroniki/Metodika-diagnosticheskogo-kontrolya-kachestva-mikroshem-142EN5-65256
Appears in Collections:	Вестник СГАУ. Актуальные проблемы радиоэлектроники

Files in This Item:

File	Description	Size	Format
apr_2000_11.pdf	Основная статья	2.64 MB	Adobe PDF	View/Open

Samara University Repository